特許
J-GLOBAL ID:200903087434842399

広帯域高周波誘電率測定方法およびその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 井ノ口 壽
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-355062
公開番号(公開出願番号):特開2005-121422
出願日: 2003年10月15日
公開日(公表日): 2005年05月12日
要約:
【課題】広帯域高周波誘電率測定方法およびその装置を提供する。【解決手段】本発明による方法は、同軸開放先端をもつプローブ104を介して試料105に既知の広帯域高周波入射信号を印加したときに前記入射信号波形(Vi )、前記試料からの反射信号波(Vr )、前記プローブの負荷である前記試料のインピーダンス(Z)および前記プローブ104を含む供給路401の特性を示す供給路定数との間にZ=Fu(Vr ,Vi ,供給路定数)が成立することを利用したものである。ガウシアン分布をもつ入射信号(Vi )を発生する入射信号発生ステップと、同軸端形状の先端を有するプローブ104の先端の導体を試料105に接触させ前記試料105からの反射信号(Vr )を検出する。変換ステップで入射信号と反射信号をフーリェ変換する。前記変換結果をもとに前記Zを示す式から任意の周波数における前記Zの実数部からそれぞれ当該周波数におけるε’、虚数部からε”に相当する量を演算する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
同軸開放先端をもつプローブを介して試料に既知の広帯域高周波入射信号を印加したときに、前記入射信号波形(Vi )、前記試料からの反射信号波(Vr )、前記プローブの負荷である前記試料のインピーダンス(Z)および前記プローブを含む供給路の特性を示す供給路定数との間に Z=Fu(Vr ,Vi ,供給路定数)が成立することを利用して前記試料の複素誘電率ε=ε’+jε”を測定する方法であって、 ガウシアン分布をもつ入射信号(Vi )を発生する入射信号発生ステップと、同軸端形状の先端を有するプローブの先端の導体を試料に接触させ前記試料からの反射信号(Vr )を検出するステップと、 入射信号と反射信号をフーリェ変換する変換ステップと、および 前記変換結果をもとに、前記Zを示す式から任意の周波数における前記Zの実数部からそれぞれ当該周波数におけるε’、虚数部からε”に相当する量を演算する演算ステップと、を含む高周波誘電率測定方法。
IPC (1件):
G01R27/26
FI (1件):
G01R27/26 H
Fターム (8件):
2G028AA05 ,  2G028BB05 ,  2G028BF06 ,  2G028CG08 ,  2G028CG09 ,  2G028CG20 ,  2G028CG22 ,  2G028HM05
引用特許:
審査官引用 (18件)
  • 特開平2-110357
  • 誘電体誘電率および同調性の定量結像
    公報種別:公表公報   出願番号:特願2001-523885   出願人:ユニヴァーシティーオブメリーランド,カレッジパーク
  • 特開昭57-066322
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引用文献:
審査官引用 (2件)
  • FDTD法による電磁波およびアンテナ解析, 19980320, 初版, 46-51頁
  • マグローヒル科学技術用語大辞典, 20000315, 改訂第3版, p. 258

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