特許

J-GLOBAL ID：200903087462268355

水質管理装置

発明者： 佐野 法 ,  大島 英郎 ,  田中 佐久雄 ,  三元 健
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-217042
公開番号（公開出願番号）：特開2000-046721
出願日： 1998年07月31日
公開日（公表日）： 2000年02月18日
要約：

【要約】【課題】 濁度が設定レベルを超えたときに、クリプト菌の混入を推測するとともにより細かなろ過池の管理が可能な水質管理装置を提供する。【解決手段】 浄水場におけるろ過池の水質管理装置において、ろ過池の出口の濁度を管理する手段として透過散乱光方式の濁度計を用いると共に水中の粒度分布を測定する粒子カウンタを用いた。また、ろ過池の入口にも粒子カウンタを設けた。

請求項（抜粋）：

浄水場におけるろ過池の水質管理装置において、ろ過池の出口の濁度を管理する手段として透過散乱光方式の濁度計を用いると共に水中の粒度分布を測定する粒子カウンタを用いたことを特徴とする水質管理装置。

IPC (4件)：

G01N 15/02 ,  G01N 15/06 ,  G01N 21/49 ,  G01N 33/18

FI (6件)：

G01N 15/02 Z ,  G01N 15/06 E ,  G01N 15/06 C ,  G01N 21/49 A ,  G01N 33/18 A ,  G01N 33/18 Z

Fターム (7件)：

2G059AA02 ,  2G059BB05 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059FF01 ,  2G059MM06 ,  2G059MM15

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭55-086507
  
• 浄水処理方法及びその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-357627   出願人：日立プラント建設株式会社
• 液体中の微粒子の粒径、個数濃度または濁度の測定方法およびその測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-080392   出願人：富士電機株式会社
• 特開昭57-189041