特許
J-GLOBAL ID:200903087532906460
パターンの位置合わせ方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
山川 政樹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-248543
公開番号(公開出願番号):特開2001-074414
出願日: 1999年09月02日
公開日(公表日): 2001年03月23日
要約:
【要約】【課題】 位置決めマークとなり得るようなパターンが存在しない場合でも、検査ワークの局所的な歪みを吸収しつつ位置合わせを行う。【解決手段】 マスタパターン中に分割領域を設定し、パターンと直交する仮想のラインを第2の位置決めマークとして設定することを分割領域毎に行う。マスタパターンの分割領域に対応する被測定パターンの分割領域を抽出して、第2の位置決めマークに対応する位置を中心とする所定の範囲についてマスタパターンとの相関値を算出する。最も相関値が高い位置を被測定パターンの第2の位置決めマークと見なし、被測定パターンとマスタパターンの互いの第2の位置決めマークの位置を合わせることにより、マスタパターンと被測定パターンの位置合わせを分割領域毎に行う(ステップ109)。
請求項(抜粋):
基準となるマスタパターンの画像とカメラで撮像した被測定パターンの画像とを比較することにより被測定パターンを検査するパターン検査方法において、マスタパターンと被測定パターンの位置合わせを行う位置合わせ方法であって、被測定パターンとマスタパターンの全領域について互いの第1の位置決めマークの位置を合わせることによりマスタパターンと被測定パターンの全体の位置合わせを行った後に、マスタパターン中に複数の分割領域を設定し、パターンと直交する少なくとも4本の仮想のラインを第2の位置決めマークとして設定することを分割領域毎に行い、マスタパターンの分割領域に対応する被測定パターンの分割領域を抽出して、前記第2の位置決めマークに対応する位置を中心とする所定の範囲についてマスタパターンとの相関値を算出し、最も相関値が高いピーク位置を被測定パターンの第2の位置決めマークと見なし、被測定パターンとマスタパターンの互いの第2の位置決めマークの位置を合わせることにより、マスタパターンと被測定パターンの位置合わせを分割領域毎に行うことを特徴とするパターンの位置合わせ方法。
IPC (3件):
G01B 11/00
, G06T 7/00
, H05K 3/00
FI (4件):
G01B 11/00 H
, H05K 3/00 V
, G06F 15/62 405 C
, G06F 15/70 455 A
Fターム (42件):
2F065AA03
, 2F065AA56
, 2F065BB13
, 2F065BB27
, 2F065CC01
, 2F065CC02
, 2F065DD11
, 2F065DD19
, 2F065EE00
, 2F065FF04
, 2F065FF61
, 2F065JJ02
, 2F065JJ25
, 2F065MM03
, 2F065QQ05
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065QQ29
, 2F065QQ31
, 2F065QQ39
, 2F065QQ41
, 2F065QQ42
, 2F065RR10
, 2F065SS13
, 2F065TT02
, 5B057AA11
, 5B057BA30
, 5B057CC03
, 5B057DA03
, 5B057DA07
, 5B057DA08
, 5B057DC16
, 5L096BA03
, 5L096CA02
, 5L096EA17
, 5L096FA06
, 5L096FA32
, 5L096FA69
, 5L096FA76
, 5L096GA19
, 5L096GA51
, 5L096HA08
引用特許:
出願人引用 (2件)
-
外観検査方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-136271
出願人:富士ファコム制御株式会社, 富士電機株式会社
-
パターン検査方法及びパターン検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-302807
出願人:日本アビオニクス株式会社
審査官引用 (2件)
-
外観検査方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-136271
出願人:富士ファコム制御株式会社, 富士電機株式会社
-
パターン検査方法及びパターン検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-302807
出願人:日本アビオニクス株式会社
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