特許
J-GLOBAL ID：200903087750803770

半導体レーザ劣化監視装置

発明者：
内方 達也

内方 達也 について


出願人/特許権者：
日本電気株式会社

日本電気株式会社 について


代理人 (1件)： 山内 梅雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-186725
公開番号（公開出願番号）：特開2003-008136
出願日： 2001年06月20日
公開日（公表日）： 2003年01月10日
要約：
【要約】【課題】 個々の半導体レーザの劣化の進行を把握し、スムーズかつ経済的なレーザ交換を実現した半導体レーザ劣化監視装置を提供すること。【解決手段】 半導体レーザ101はその温度がサーミスタ103により検出され、温度制御回路部104によって一定温度になるように制御されている。DSP112は温度制御回路部104が新たな設定温度に対する制御を実現すると、波長ロッカ114によって波長の目標値とのずれを判別し、波長のずれが存在したときにはそのずれ量と半導体レーザ101の使用時間を表わしたデータをサーバ122で管理する。サーバ122はずれの累積値と使用時間の対からなるデータをグラフ化して、半導体レーザ101の劣化の進行を表示する。またそのグラフよりレーザの寿命とする時期を把握することにより、スムーズなレーザ交換が可能となる。
請求項（抜粋）：
半導体レーザの温度を設定温度に制御する温度制御回路と、この半導体レーザの使用開始からの使用時間を計測する計時手段と、新たな設定温度が与えられ前記温度制御回路が前記半導体レーザを新たな設定温度に到達させた段階で、この半導体レーザについて予め定められた所定の特性が個々の半導体レーザに対して定められた目標値と相違しているかどうかを判別する特性不一致判別手段と、この特性不一致判別手段が前記目標値と一致していないと判別したときその目標値との誤差を求める誤差演算手段と、前記半導体レーザの使用開始からの誤差演算手段による誤差の累積値とそれに対応する半導体レーザの前記使用時間をそれぞれ対にした履歴データを作成する履歴データ作成手段と、この履歴データ作成手段で作成されたそれぞれの履歴データを用いて前記半導体レーザの前記所定の特性が半導体レーザの劣化を示す劣化値に到達するまでの使用時間を判定する使用時間判定手段とを具備することを特徴とする半導体レーザ劣化監視装置。
IPC (2件)：
H01S 5/068 ,  H04B 10/08
FI (2件)：
H01S 5/068 ,  H04B 9/00 K
Fターム (13件)：
5F073BA02 ,  5F073EA15 ,  5F073EA28 ,  5F073FA25 ,  5F073HA10 ,  5F073HA12 ,  5K002BA04 ,  5K002BA05 ,  5K002BA13 ,  5K002CA13 ,  5K002DA02 ,  5K002EA05 ,  5K002FA01
引用特許：
審査官引用 (3件)

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