特許
J-GLOBAL ID：200903088694316247

表示デバイス検査装置

発明者：
阿部 正昭

阿部 正昭 について


出願人/特許権者：
ソニー株式会社

ソニー株式会社 について


代理人 (1件)： 服部 毅巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-164673
公開番号（公開出願番号）：特開2002-357800
出願日： 2001年05月31日
公開日（公表日）： 2002年12月13日
要約：
【要約】【課題】 表示デバイスの温度上昇を防止するとともに正確な温度制御を行なう。【解決手段】 液晶パネル10の検査時、液晶パネル10の上面及び下面に対向するサファイアガラス31、32とともに、液晶パネル10とサファイアガラス31、32とによって形成される空間に低温エアーを吹き出す吹き付けノズル41、42が設置されている。液晶パネル10を支持台21、22にセットして検査が開始されると、高輝度光源からの光が液晶パネル10に入射すると同時に温度コントローラ50が動作を開始し、液晶パネル10の温度上昇を防止するとともに液晶パネル10が所定の温度となるように、吹き付けノズル41、42から流れる低温エアーの流量と流速を制御する。
請求項（抜粋）：
表示デバイスを所定の温度に温度制御して画像特性検査を行なう表示デバイス検査装置において、前記表示デバイスの端部を支持して前記表示デバイスを所定の位置に保持する支持手段と、前記支持手段により前記所定の位置に保持された前記表示デバイスの上面及び下面に前記所定の温度より低温の低温エアーを吹き付ける低温エアー吹き付け手段と、前記所定の温度に応じて前記低温エアーの流量及び流速を制御する低温エアー制御手段と、を有することを特徴とする表示デバイス検査装置。
IPC (2件)：
G02F 1/13 101 ,  G09F 9/00 352
FI (2件)：
G02F 1/13 101 ,  G09F 9/00 352
Fターム (8件)：
2H088EA68 ,  2H088FA11 ,  2H088HA01 ,  2H088MA20 ,  5G435AA17 ,  5G435BB12 ,  5G435KK05 ,  5G435KK10
引用特許：
審査官引用 (6件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM