特許
J-GLOBAL ID：200903088802222300

閉じ込められたイオンビームの中の選択されたイオンの強度を減少させる装置

発明者：
アイデン,グレゴリー・シー

アイデン,グレゴリー・シー について

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バリナガ,チャールズ・ジェイ

バリナガ,チャールズ・ジェイ について

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コッペナール,デービッド・ダブリュー

コッペナール,デービッド・ダブリュー について


出願人/特許権者：
バッテル メモリアル インスティテュート

バッテル メモリアル インスティテュート について


代理人 (6件)： 社本 一夫 ,  増井 忠弐 ,  小林 泰 ,  千葉 昭男 ,  富田 博行 ,  沖本 一暁
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-118500
公開番号（公開出願番号）：特開2004-006328
出願日： 2003年04月23日
公開日（公表日）： 2004年01月08日
要約：
【課題】キャリアガスおよび分析物を含むイオンビームに対し分析物イオンを除去又は中和することなく、キャリアガスイオンを選択的に除去する。【解決手段】電荷移動ガスを、イオントラップ、長飛行チューブ、レンズスタックまたはRF多重極イオンガイドで構成したセル中で、キャリアイオン/分析物イオンの複合物に添加する。この電荷移動ガスは、キャリアガス・イオンからの電荷を受容するが、分析物イオンからの電荷は殆ど受容せず、これにより、キャリアガス・イオンを選択的に中和する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
イオンビームを発生するための装置であって、 (a)イオン源;および (b)(i)前記イオン源からイオンビームを受け取り、(ii)試薬ガスを受け取り、および(iii)前記イオンビームおよび前記試薬ガス中のイオン間の電荷移動反応を閉じ込めるように形成したセルを含み、前記セルが画成した真空領域内に含まれている、 イオンビームを発生するための装置。
IPC (3件)：
H01J49/26 ,  G01N27/62 ,  H01J49/06
FI (6件)：
H01J49/26 ,  G01N27/62 G ,  G01N27/62 H ,  G01N27/62 K ,  G01N27/62 L ,  H01J49/06
Fターム (2件)：
5C038FF07 ,  5C038HH01
引用特許：
審査官引用 (5件)
  • 特開平2-158047
  • 質量分析法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-099645   出願人：エムディーエスヘルスグループリミテッド
  • 特開平1-311554
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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