特許
J-GLOBAL ID:200903088886940190

ターゲット投影式3次元形状計測方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 堀田 実
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-241551
公開番号(公開出願番号):特開2004-077410
出願日: 2002年08月22日
公開日(公表日): 2004年03月11日
要約:
【課題】数m角以上の巨大な対象物体の3次元形状を、短時間で精度良く計測することができる3次元形状計測方法および装置を提供する。【解決手段】縦横2本のスリット光2、3を順次位置を変えながら対象物1に照射し、それぞれのスリット光の投影位置4を撮影し、その交点5及び/又は消失点6を特徴点として3次元位置を計測する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
縦横2本のスリット光(2、3)を順次位置を変えながら対象物(1)に照射し、それぞれのスリット光の投影位置(4)を撮影し、その交点(5)及び/又は消失点(6)を特徴点として3次元位置を計測する、ことを特徴とするターゲット投影式3次元形状計測方法。
IPC (1件):
G01B11/24
FI (1件):
G01B11/24 K
Fターム (19件):
2F065AA03 ,  2F065AA53 ,  2F065CC00 ,  2F065CC14 ,  2F065FF05 ,  2F065FF07 ,  2F065FF09 ,  2F065GG06 ,  2F065HH05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL13 ,  2F065MM16 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ42 ,  2F065RR10
引用特許:
審査官引用 (6件)
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