特許
J-GLOBAL ID：200903088983847854
吸収係数の測定方法とこの吸収係数を用いた濃度測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
上田 章三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-055631
公開番号（公開出願番号）：特開平10-239234
出願日： 1997年02月24日
公開日（公表日）： 1998年09月11日
要約：
【要約】【課題】 被測定物が光散乱性を有する場合にも吸収係数を高精度で測定できかつ特定成分の濃度も高精度で測定できる測定方法を提供する。【解決手段】 光散乱性を有する被測定物に対して波長λの光を入射させ、その入射光量Pin(λ)と被測定物から出射される出射光量Pout(λ)に基づき式(1)から被測定物中に含まれる特定成分の吸収係数を測定する方法で、 Pout(λ)=Pin(λ)exp[-β(λ)L] (1)[但し、Lは被測定物内に入射されかつ被測定物から出射された光の被測定物内における幾何学距離を示す]、上記被測定物内に入射された波長λの光における実効的光路長L’を計測し、この実効的光路長L’に基づき式(1)の入射光量Pin(λ)、出射光量Pout(λ)及び幾何学距離Lから求められた見掛けの吸収係数β(λ)を補正して特定成分の波長λの光における吸収係数α0(λ)を測定することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
光散乱性を有する被測定物に対して波長λの光を入射させ、その入射光量Pin(λ)と被測定物から出射される出射光量Pout(λ)に基づき下記式(1)から被測定物中に含まれる特定成分の吸収係数を測定する方法において、 Pout(λ)=Pin(λ)exp[-β(λ)L] (1)[但し、Lは被測定物内に入射されかつ被測定物から出射された光の被測定物内における幾何学距離を示す]上記被測定物内に入射された波長λの光における実効的光路長L’を計測し、この実効的光路長L’に基づき式(1)の入射光量Pin(λ)、出射光量Pout(λ)及び幾何学距離Lから求められた見掛けの吸収係数β(λ)を補正して上記特定成分の波長λの光における吸収係数α0(λ)を測定することを特徴とする吸収係数の測定方法。
引用特許：
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