特許
J-GLOBAL ID：200903089060843178
不要イオン抑制のための質量分析計動作方法
発明者：
,
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
柳田 征史
, 佐久間 剛
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-589778
公開番号（公開出願番号）：特表2004-531862
出願日： 2002年05月09日
公開日（公表日）： 2004年10月14日
要約：
質量分析計システムにおける、処理区画、例えば衝突セルの動作方法。方法は衝突後の干渉イオンの幾分かは所望の検体イオンよりかなり低い運動エネルギーを有するであろうという認識に基づく。これらの干渉イオンは、イオン源から発するイオンまたはガス粒子との反応により形成される生成物イオンあるいはセル内でその他の過程により生成されるイオンであり得る。重要なことは、これらの干渉イオンは所望の検体イオンに比較して低い運動エネルギーを有し得るが、このエネルギー差が衝突セルの出口においては消滅しているかまたはかなり小さくなっており、セル後エネルギー弁別がほとんど無効になることである。発明は、干渉イオンのより低い運動エネルギーに基いて干渉イオンを差別するため、セル内に電場を与える。
請求項（抜粋）：
入口及び出口を有する処理区画を備える質量分析計システムの動作方法において、
a) イオンの進行のための経路を定め、前記経路に沿ってイオンを誘導するための手段を備える前記処理区画の前記入口にイオン流を与える工程、
b) 前記イオン流に、中性粒子とのイオンの衝突を可能にする条件の下で作動される前記処理区画を通過させる工程、
c) 前記処理区画を通過するイオンの運動を減速するために、前記処理区画の前記経路の少なくとも一部分に沿って広がる内部電場を与える工程、及び
d) 所望の検体イオンより低い運動エネルギーを有する不要イオンにかなり大きな減速を与え、よって前記不要イオンの減速及び前記不要イオンの選択的減損を促進し、前記不要イオンに対する前記検体イオンの比を高めるように、前記内部電場を選択する工程、
を含むことを特徴とする方法。
IPC (4件)：
H01J49/06
, G01N27/62
, H01J49/10
, H01J49/42
H01J49/06
, G01N27/62 E
, G01N27/62 G
, G01N27/62 L
, H01J49/10
, H01J49/42
5C038FF13
, 5C038GG09
, 5C038GH08
, 5C038GH11
, 5C038GH13
, 5C038GH15
, 5C038GH17
