特許
J-GLOBAL ID：200903089257882256

半導体メモリ装置

発明者：
平野 博茂

平野 博茂 について


出願人/特許権者：
松下電子工業株式会社

松下電子工業株式会社 について


代理人 (1件)： 前田 弘 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-348377
公開番号（公開出願番号）：特開2001-167584
出願日： 1999年12月08日
公開日（公表日）： 2001年06月22日
要約：
【要約】【課題】 強誘電体メモリセルとSRAMセルとを混載する半導体メモリ装置のチップサイズの縮小化を図れるようにする。【解決手段】 強誘電体からなる容量絶縁膜を有する第1の強誘電体キャパシタC1及び該キャパシタC1を外部から選択的にアクセス可能とする第1のFRAMセル選択トランジスタQ0を含む強誘電体メモリセル10と、互いに直列に接続され、その共通接続部を第1のデータ保持ノード25とする第1のP型MOSトランジスタQ2及び第1のN型MOSトランジスタQ3、並びに第1のデータ保持ノード25を外部から選択的にアクセス可能とする第1のSRAMセル選択トランジスタQ6を含むSRAMセル20とを備えている。第1のFRAMセル選択トランジスタQ0と第1のSRAMセル選択トランジスタQ6とは、同一のビット線BL0によりアクセスされる。
請求項（抜粋）：
強誘電体からなる容量絶縁膜を有するキャパシタ及び該キャパシタを外部から選択的にアクセス可能とする第1のセル選択トランジスタを含む強誘電体メモリセルと、互いに直列に接続され、その共通接続部をデータ保持ノードとする第1導電型の負荷トランジスタ及び第2導電型の駆動トランジスタ、並びに前記データ保持ノードを外部から選択的にアクセス可能とする第2のセル選択トランジスタを含むSRAMセルとを備え、前記第1のセル選択トランジスタと前記第2のセル選択トランジスタとは、同一のビット線によりアクセスされることを特徴とする半導体メモリ装置。
IPC (6件)：
G11C 14/00 ,  G11C 11/22 ,  G11C 11/41 ,  H01L 21/8244 ,  H01L 27/11 ,  H01L 27/105
FI (5件)：
G11C 11/22 ,  G11C 11/34 352 A ,  G11C 11/34 Z ,  H01L 27/10 381 ,  H01L 27/10 441
Fターム (20件)：
5B015HH01 ,  5B015HH03 ,  5B015JJ32 ,  5B015KA04 ,  5B015KA10 ,  5B015NN06 ,  5B015PP03 ,  5B015QQ17 ,  5B024AA07 ,  5B024BA02 ,  5B024BA03 ,  5B024BA05 ,  5B024CA07 ,  5F083BS27 ,  5F083FR02 ,  5F083FR03 ,  5F083GA09 ,  5F083KA05 ,  5F083LA03 ,  5F083ZA14
引用特許：
審査官引用 (2件)
  • 不揮発性メモリセル
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-091418   出願人：日本電気株式会社
  • 不揮発メモリ
    公報種別：公表公報   出願番号：特願平7-504587   出願人：シメトリックス・コーポレーション, オリンパス光学工業株式会社

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