3次元変位ひずみ計測方法及び装置

発明者： , , , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：小林良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-066766
公開番号（公開出願番号）：特開2007-240465
出願日： 2006年03月10日
公開日（公表日）： 2007年09月20日
要約：

【課題】位相シフトデジタルホログラフィを用いた変位計測において、3次元変位計測を一挙に且つ短時間で行う手法を提供する。また、変位計測手法によって得られた変位分布からひずみ分布を算出する手法も提供する。【解決手段】a) 計測物体に3つの異なる方向から同一波長の物体光を照射し、b) 物体光と同一波長を有する3つの参照光と計測物体からの反射光との干渉像を、各参照光の位相を互いに異なる速度で物体光に対して変化させつつ複数枚、2次元撮像素子で撮影し、c) フーリエ変換を用いて位相変化速度の異なる干渉成分を抽出することにより3つの物体光による干渉像を分離し、d) 各干渉像より、各物体光の照射方向に応じた方向の計測物体の変位分布を計測することにより計測物体の3次元変位を計測する。【選択図】図8

請求項（抜粋）：

a) 計測物体に3つの異なる方向から同一波長の物体光を照射し、 b) 物体光と同一波長を有する3つの参照光と計測物体からの反射光との干渉像を、各参照光の位相を互いに異なる速度で物体光に対して変化させつつ複数枚、2次元撮像素子で撮影し、 c) フーリエ変換を用いて位相変化速度の異なる干渉成分を抽出することにより3つの物体光による干渉像を分離し、 d) 各干渉像より、各物体光の照射方向に応じた方向の計測物体の変位分布を計測することにより計測物体の3次元変位を計測する方法。

IPC (3件)：

G01B 11/00 , G01B 11/16 , G01B 9/021

FI (3件)：

G01B11/00 G , G01B11/16 G , G01B9/021

Fターム (59件)：

2F064AA02 , 2F064AA11 , 2F064CC01 , 2F064DD01 , 2F064DD09 , 2F064EE10 , 2F064FF01 , 2F064GG12 , 2F064GG22 , 2F064GG41 , 2F064GG44 , 2F064GG52 , 2F064GG53 , 2F064GG61 , 2F064HH03 , 2F064HH08 , 2F064JJ01 , 2F064JJ15 , 2F064LL03 , 2F065AA04 , 2F065AA20 , 2F065AA49 , 2F065AA53 , 2F065AA65 , 2F065BB05 , 2F065CC14 , 2F065DD02 , 2F065DD03 , 2F065DD06 , 2F065EE05 , 2F065FF04 , 2F065FF41 , 2F065FF51 , 2F065FF61 , 2F065GG04 , 2F065GG22 , 2F065HH12 , 2F065HH14 , 2F065JJ03 , 2F065JJ26 , 2F065LL00 , 2F065LL04 , 2F065LL12 , 2F065LL24 , 2F065LL30 , 2F065LL46 , 2F065LL62 , 2F065MM16 , 2F065MM26 , 2F065MM28 , 2F065PP11 , 2F065QQ16 , 2F065QQ24 , 2F065QQ25 , 2F065QQ28 , 2F065QQ31 , 2F065QQ42 , 2F065UU05 , 2F065UU07

引用特許：

出願人引用 (2件)

デジタルホログラフィを利用した変位分布計測方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2004-074444 出願人：国立大学法人和歌山大学
待ち合わせ支援システム、待ち合わせ支援方法、および待ち合わせ支援装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2005-256593 出願人：日産自動車株式会社

審査官引用 (5件)

特開昭60-227102
斜入射干渉計用干渉縞パターン弁別器
公報種別：公表公報出願番号：特願2004-526198 出願人：コーニングトローペルコーポレイション
測定値の校正方法、校正装置および光学的加工部品
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-056163 出願人：レニショウパブリックリミテッドカンパニー

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