特許
J-GLOBAL ID:200903089524938355

分光特性測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長谷川 芳樹 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-319171
公開番号(公開出願番号):特開2000-146694
出願日: 1998年11月10日
公開日(公表日): 2000年05月26日
要約:
【要約】【課題】 測定対象物内に含まれる微量成分量を精度良く推定することができる分光特性測定装置を提供する。【解決手段】 分光特性測定装置10は、本体12と遮光ケース14とを備えて構成され、本体12の内部には、2つの単色光源ユニット28,30、白色光源ユニット32、受光センサユニット34、分光センサユニット36、制御ユニット38及び電源ユニット40が設けられている。制御ユニット38は、受光センサユニット34によって検出された光に基づいて、測定対象物内における単色光の平均光路長を算出する平均光路長算出部と、分光センサユニット36によって検出された白色光と平均光路長算出部によって算出された平均光路長とに基づいて、測定対象物の分光特性を算出する分光特性算出部とを有している。
請求項(抜粋):
測定対象物の分光特性を測定する分光特性測定装置において、前記測定対象物表面上の所定の投射箇所から前記測定対象物の内部に光を投射する第1の光投射手段と、前記第1の光投射手段によって投射され、前記測定対象物表面上の所定の出射箇所から出射する光を検出する第1の光検出手段と、前記第1の光検出手段によって検出された光に基づいて、前記入射箇所から前記出射箇所までの平均光路長を算出する平均光路長算出手段と、前記投射箇所から前記測定対象物の内部に所定の波長帯域を有する光を投射する第2の光投射手段と、前記第2の光投射手段によって投射され、前記出射箇所から出射する光を検出する第2の光検出手段と、前記第2の光検出手段によって検出された前記波長帯域における光と前記平均光路長算出手段によって算出された前記平均光路長とに基づいて、前記測定対象物の分光特性を算出する分光特性算出手段とを備えたことを特徴とする分光特性測定装置。
IPC (2件):
G01J 3/42 ,  A61B 5/145
FI (2件):
G01J 3/42 ,  A61B 5/14 310
Fターム (30件):
2G020AA03 ,  2G020AA04 ,  2G020AA05 ,  2G020BA05 ,  2G020BA20 ,  2G020CA02 ,  2G020CA03 ,  2G020CB07 ,  2G020CB23 ,  2G020CB25 ,  2G020CB26 ,  2G020CB27 ,  2G020CB32 ,  2G020CB42 ,  2G020CB43 ,  2G020CC02 ,  2G020CC21 ,  2G020CC31 ,  2G020CC48 ,  2G020CD13 ,  2G020CD23 ,  2G020CD24 ,  2G020CD35 ,  2G020CD37 ,  2G020CD56 ,  2G020CD58 ,  4C038KK01 ,  4C038KL07 ,  4C038KM01 ,  4C038KX02
引用特許:
審査官引用 (6件)
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引用文献:
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