特許
J-GLOBAL ID：200903089574943252
形状測定装置
発明者：
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
香山 秀幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-302385
公開番号（公開出願番号）：特開2002-107128
出願日： 2000年10月02日
公開日（公表日）： 2002年04月10日
要約：
【要約】【課題】 この発明は、被測定物の3次元形状を光切断法によって測定した際に、被測定物の特定の部位の位置をも検出することが可能となる部位特定用マーカを提供することを目的とする。【解決手段】 被測定物に対してスリット光を投影し被測定物に投影されたスリット光を撮像素子で観察することにより被測定物の形状を測定し、測定結果を、撮像素子で観察されたスリット光の輝度に応じて色を変えて曲線で表示するといった形状測定を行なう際に、被測定物の所定の部位の位置を検出する目的で被測定物の所定の部位に貼られる部位特定用マーカにおいて、シート状であり、中央部の外側面にスリット光を反射する色が塗られており、中央部の周囲の外側面にスリット光を吸収する色が塗られている。
請求項（抜粋）：
被測定物に対してスリット光を投影し被測定物に投影されたスリット光を撮像素子で観察することにより被測定物の形状を測定し、測定結果を、撮像素子で観察されたスリット光の輝度に応じて色を変えて曲線で表示するといった形状測定を行なう際に、被測定物の所定の部位の位置を検出する目的で被測定物の所定の部位に貼られる部位特定用マーカにおいて、シート状であり、中央部の外側面にスリット光を反射する色が塗られており、中央部の周囲の外側面にスリット光を吸収する色が塗られていることを特徴とする部位特定用マーカ。
IPC (3件)：
G01B 11/24
, A43D 1/02
, G01B 11/25
A43D 1/02
, G01B 11/24 K
, G01B 11/24 A
, G01B 11/24 E
2F065AA53
, 2F065BB28
, 2F065CC16
, 2F065FF01
, 2F065FF02
, 2F065FF05
, 2F065FF09
, 2F065FF15
, 2F065FF46
, 2F065GG06
, 2F065GG07
, 2F065GG25
, 2F065HH05
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ26
, 2F065MM09
, 2F065QQ23
, 2F065SS13
, 4F050AA01
, 4F050AA06
, 4F050LA01
, 4F050NA88
