特許
J-GLOBAL ID：200903089744420209
軸受検査方法および軸受検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
横沢 志郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-320311
公開番号（公開出願番号）：特開2002-131187
出願日： 2000年10月20日
公開日（公表日）： 2002年05月09日
要約：
【要約】【課題】 AE法を採用することなく、精度良く、動圧軸受の接触回転数等を検査可能な軸受検査装置を提案すること。【解決手段】 軸受検査装置10は、モータ1の動圧軸受部分の接触状態および非接触状態を抵抗および容量変化(インピーダンス変化)に基づき検出している。モータベース板2に近接配置した電極11に交流電圧を印加すると、電界が発生して、電気力線がディスクハブ5を介して、近接配置された検出用電極12、または動圧軸受部分およびベース板2を介して接地側に流れる。回転軸4がスリーブ3に対して接触回転している場合には、動圧軸受部分を経由して接地側に向かう経路が優勢となり、検出用電極12から得られる検出電圧は僅かである。逆に、非接触回転状態では、電極12から得られる検出電圧が大きい。かかる検出電圧の波形をオシロスコープ14により測定することで、接触回転数等を検査できる。
請求項（抜粋）：
同軸状態に配置された軸要素および軸受要素が所定の相対回転数以上において非接触状態に保持される軸受において、前記軸要素と前記軸受要素が接触回転状態にあるか否かを検査するための軸受検査方法であって、前記軸要素および前記軸受要素を相対回転させ、相対回転状態におけるこれら軸要素および軸受要素間のインピーダンス変化を検出し、このインピーダンスが接触回転時と非接触回転時で変化することを用いて、前記軸要素と前記軸受要素が接触回転状態にあるか否かを判別することを特徴とする軸受検査方法。
IPC (3件)：
G01M 13/04
, F16C 17/10
, H02K 11/00
G01M 13/04
, F16C 17/10 A
, H02K 11/00 Q
2G024AC04
, 2G024BA11
, 2G024BA12
, 2G024BA21
, 2G024CA18
, 3J011AA20
, 3J011CA02
, 5H611AA01
, 5H611AA05
, 5H611BB01
, 5H611PP03
, 5H611QQ06
, 5H611QQ07
, 5H611SS03
, 5H611TT05
, 5H611TT06
, 5H611UA05
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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