特許
J-GLOBAL ID：200903089776142774
透過率測定サンプル、その作製方法、 及び透過率測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-070173
公開番号（公開出願番号）：特開平8-271393
出願日： 1995年03月28日
公開日（公表日）： 1996年10月18日
要約：
【要約】【目的】 光学素材の透過率の測定において、透過率測定サンプル自体やサンプルの作製方法に起因する測定誤差をなくし、高精度の測定を可能とする。【構成】 サンプル表面の表面粗さ、研磨剤等の残留不純物、加工により発生する残留応力等に起因する構造欠陥をなくし、サンプルの表面損失を0.1%以下とする。
請求項（抜粋）：
向かい合う二面が研磨された光学素材の透過率測定サンプルにおいて、各研磨面の測定波長の表面損失が0.1%以下であることを特徴とする透過率測定サンプル。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 1/28 Z
, G01N 21/59 Z
