特許
J-GLOBAL ID:200903089786324234

液状エポキシ樹脂組成物及びフリップチップ型半導体装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 小島 隆司 ,  重松 沙織 ,  小林 克成
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-146240
公開番号(公開出願番号):特開2004-346232
出願日: 2003年05月23日
公開日(公表日): 2004年12月09日
要約:
【解決手段】(A)液状エポキシ樹脂(B)式(1)〜(3)で表される芳香族アミン化合物の1種又は2種以上を硬化剤全体の5質量%以上含有する芳香族アミン系硬化剤(C)平均粒径0.1〜5μmであり、フリップチップ型半導体装置のギャップサイズに対して1/2以上の粒径のものが無機質充填剤全体の0.1質量%以下である無機質充填剤を含有する液状エポキシ樹脂組成物、及びこの組成物の硬化物をアンダーフィル材として封止したフリップチップ型半導体装置。【化1】(R1〜R4はH又はC1〜6の一価炭化水素基。)【効果】本発明の組成物は、シリコンチップ表面との密着性に優れた硬化物を与え、吸湿後のリフローの温度が上昇しても不良が発生せず、高温多湿の条件下でも劣化せず、温度サイクルにおいても剥離、クラックが起こらない半導体装置が提供できる。【選択図】 な し
請求項(抜粋):
(A)液状エポキシ樹脂 (B)下記一般式(1)〜(3)で表される芳香族アミン化合物の1種又は2種以上を硬化剤全体の5質量%以上含有する芳香族アミン系硬化剤 (C)無機質充填剤 を必須成分とし、(C)無機質充填剤が、平均粒径0.1〜5μmであり、かつフリップチップ型半導体装置のギャップサイズに対して1/2以上の粒径のものが無機質充填剤全体の0.1質量%以下であることを特徴とする液状エポキシ樹脂組成物。
IPC (5件):
C08G59/50 ,  C08K3/00 ,  C08L63/00 ,  H01L23/29 ,  H01L23/31
FI (4件):
C08G59/50 ,  C08K3/00 ,  C08L63/00 C ,  H01L23/30 R
Fターム (29件):
4J002CD051 ,  4J002CD113 ,  4J002CD173 ,  4J002CD203 ,  4J002DA097 ,  4J002DE147 ,  4J002DF017 ,  4J002DJ007 ,  4J002DJ017 ,  4J002DK007 ,  4J002EN036 ,  4J002EV086 ,  4J002EV216 ,  4J002FD017 ,  4J002FD041 ,  4J002FD146 ,  4J002GQ00 ,  4J036AC01 ,  4J036AC05 ,  4J036AD08 ,  4J036DC10 ,  4J036DD01 ,  4J036FB16 ,  4J036JA07 ,  4M109AA01 ,  4M109EA02 ,  4M109EA10 ,  4M109EB02 ,  4M109EB13
引用特許:
審査官引用 (2件)

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