特許
J-GLOBAL ID：200903089987964924
副伝導路検出装置および副伝導路検出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-319705
公開番号（公開出願番号）：特開平7-171118
出願日： 1993年12月20日
公開日（公表日）： 1995年07月11日
要約：
【要約】【構成】 第1電極リードおよび第2電極リードからの活動電位信号を計測し、得られた複数の活動電位をポテンシャルマップとしてCRT46およびまたはプリンターに一覧表示できるように出力し、該表示から得られた早期興奮部位に前記焼灼用カテーテルを挿入し、前記第1電極リードまたは前記第2電極リードの電極と該焼灼用カテーテルの有する電極とのインピーダンスをインピーダンス測定回路52により計測し、インピーダンスが最低となる点を副伝導路部位として、前記焼灼用カテーテルを固定する副伝導路検出装置。【効果】 副伝導路部位を検出し、該部位に焼灼用カテーテルを固定し、焼灼することが容易となる。
請求項（抜粋）：
被検体の副伝導路を検出し、焼灼するための装置において、前記被検体の第1検出部位に挿入し該部位における複数の活動電位を計測するための第1電極リードと、前記被検体の第2検出部位に挿入し該部位における複数の活動電位を計測するための第2電極リードとを備え、前記第1電極リードおよび前記第2電極リードからの活動電位信号を多点同時計測し、得られた活動電位を同時に一覧表示できるように出力することを特徴とする副伝導路検出装置。
IPC (2件)：
A61B 5/0428
, A61B 5/0452
A61B 5/04 310 B
, A61B 5/04 312 A
