特許

J-GLOBAL ID：200903090002892213

X線を用いた非破壊検査方法

発明者： 服部 満 ,  加藤 久佳
出願人/特許権者： 日本碍子株式会社
代理人 (1件)： 杉村 暁秀 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-011334
公開番号（公開出願番号）：特開2001-201465
出願日： 2000年01月20日
公開日（公表日）： 2001年07月27日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】X線透過法により高い精度で内部欠陥等を検査できる方法、および、X線断層法をセラミックスや金属に応用することでったセラミックスや金属の断層面における内部欠陥等を検査できる非破壊検査方法を提供する。【解決手段】試料2にX線を照射し、試料内部のX線吸収係数の違いに基づくデジタル画像データとしてX線透過像を求め、求めたX線透過像のデジタル画像データを画像処理することで、試料の内部を非破壊で検査する。また、試料2に異なる方向からX線を照射し、各方向から得られた画像データを再構成することによってデジタル画像データからなる断層像を求め、求めた断層像のデジタル画像データを画像処理することで、試料の内部を非破壊で検査する。

請求項（抜粋）：

X線透過法により試料の内部を非破壊で検査するX線を用いた非破壊検査方法であって、試料にX線を照射し、試料内部のX線吸収係数の違いに基づくデジタル画像データとしてX線透過像を求め、求めたX線透過像のデジタル画像データを画像処理することで、試料の内部を非破壊で検査することを特徴とするX線を用いた非破壊検査方法。

IPC (3件)：

G01N 23/18 ,  F01N 3/20 ,  G01N 23/04

FI (3件)：

G01N 23/18 ,  F01N 3/20 C ,  G01N 23/04

Fターム (20件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001GA01 ,  2G001HA07 ,  2G001HA14 ,  2G001JA08 ,  2G001JA13 ,  2G001KA01 ,  2G001KA03 ,  2G001LA06 ,  2G001MA10 ,  2G001PA12 ,  3G091AA02 ,  3G091AB01 ,  3G091BA31 ,  3G091GA06 ,  3G091GB01X ,  3G091GB10X ,  3G091GB17X

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭63-238541
  
• X線CT装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-044504   出願人：新日本製鐵株式会社, 高エネルギー物理学研究所長
• 密度分布測定装置及び方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-031536   出願人：大建工業株式会社, 浜松ホトニクス株式会社, センサ・システム株式会社
• 特開昭60-181642