特許
J-GLOBAL ID:200903090128098245
質量分析装置及び質量分析方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
平木 祐輔
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-017284
公開番号(公開出願番号):特開2007-198884
出願日: 2006年01月26日
公開日(公表日): 2007年08月09日
要約:
【課題】試料の構造情報を解析する際に有効なMSnスペクトルを得ることができる質量分析装置及び質量分析方法を提供する。【解決手段】試料を分離する試料分離手段と、前記試料分離手段により分離された試料をイオン化するイオン化手段と、前記イオン化手段により生成されたイオンの中から特定のイオン種を選択して解離させる選択解離手段と、前記選択解離手段により選択及び解離が行われたイオン種に対して質量分析を行ってマススペクトルデータを取得する手段と、前記取得されたマススペクトルデータの有効性を、前記マススペクトルデータに含まれるピークの数及び強度に基づいて判定する有効性判定手段と、前記有効性判定手段の判定結果に基いて、前記選択解離手段によるイオン種の解離条件を変更する解離条件変更手段とを備えていることを特徴とする質量分析装置。【選択図】図3
請求項(抜粋):
試料を分離する試料分離手段と、
前記試料分離手段により分離された試料をイオン化するイオン化手段と、
前記イオン化手段により生成されたイオンの中から特定のイオン種を選択して解離させる選択解離手段と、
前記選択解離手段により選択及び解離が行われたイオン種に対して質量分析を行ってマススペクトルデータを取得する手段と、
前記取得されたマススペクトルデータの有効性を、前記マススペクトルデータに含まれるピークの数及び強度に基づいて判定する有効性判定手段と、
前記有効性判定手段の判定結果に基いて、前記選択解離手段によるイオン種の解離条件を変更する解離条件変更手段とを備えていることを特徴とする質量分析装置。
IPC (1件):
FI (3件):
G01N27/62 G
, G01N27/62 C
, G01N27/62 X
Fターム (12件):
2G041CA01
, 2G041EA04
, 2G041EA06
, 2G041FA12
, 2G041GA03
, 2G041GA06
, 2G041GA07
, 2G041GA08
, 2G041GA09
, 2G041GA10
, 2G041JA02
, 2G041KA01
引用特許:
出願人引用 (3件)
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質量分析システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-152693
出願人:株式会社日立製作所, 株式会社日立ハイテクノロジーズ
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イオントラップ型質量分析装置及び方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-118158
出願人:株式会社日立製作所
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質量分析方法及び装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-343196
出願人:株式会社日立製作所
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