特許
J-GLOBAL ID:200903090502249961
半導体製造装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
油井 透 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-185454
公開番号(公開出願番号):特開平11-031639
出願日: 1997年07月10日
公開日(公表日): 1999年02月02日
要約:
【要約】【課題】 サイドダミー用ウェーハに代えて耐ガスクリーニングの材質からなるダミー板をボートに設けることによって、サイドダミー用ウェーハの投入・交換作業をなくし、スループットの向上を図る。【解決手段】 半導体製造装置のボート9の上下にサイドダミー用ウェーハに代えて、ウェーハの形状をした石英製のダミー板23を設ける。ダミー板23は、材質を石英とすることにより、堆積した反応生成物をガスクリーニングにより除去することが可能となり、ガスクリーニングによる損傷を最低限に抑えることができる。また、ウェーハの形状をしていることにより、サイドダミー用ウェーハと同様な保温機能とガス整流機能とを有する。
請求項(抜粋):
保温確保とガス整流のためのダミー用ウェーハを、プロセス用のウェーハとともにボートにセットした状態でプロセス用ウェーハに成膜し、上記ウェーハ以外に堆積する反応生成物をクリーニングで除去するようにした半導体製造装置において、上記ダミー用ウェーハに代えて、ダミー用ウェーハと同等の機能を有し、かつ上記クリーニングによるダメージの小さな材質からなるダミー板を設けて、上記ダミー板に堆積する反応生成物を上記クリーニングで除去できるようにしたことを特徴とする半導体製造装置。
IPC (3件):
H01L 21/02
, C30B 35/00
, H01L 21/205
FI (3件):
H01L 21/02 B
, C30B 35/00
, H01L 21/205
引用特許:
審査官引用 (3件)
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特開平4-061331
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半導体ウェーハ支持装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-104276
出願人:住友シチックス株式会社
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ダミーウェハー
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-171172
出願人:イビデン株式会社
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