特許
J-GLOBAL ID:200903090775561895

超音波探傷方法とその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 角田 嘉宏 ,  古川 安航 ,  西谷 俊男 ,  幅 慶司 ,  内山 泉
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-007777
公開番号(公開出願番号):特開2004-219287
出願日: 2003年01月16日
公開日(公表日): 2004年08月05日
要約:
【課題】複数チャンネルでの探傷結果がそれぞれ別々に表示されているため、検査者がそれら複数の画像から一つの探傷画像を想像しながら欠陥評価をする必要があり、正確な探傷が行えない。【解決手段】送信探触子12,13と受信探触子14,15とで構成した超音波探傷チャンネル16,17で被検査体10の厚み方向に複数の超音波探傷を行い、それぞれの超音波探傷結果において超音波が被検査体10中を伝搬した時間を厚み方向距離に対応付けて線形表示の超音波探傷画像に変換し、この変換した複数の超音波探傷画像を被検査体10の厚み方向に合成して探傷画像を得るようにして、被検査体10の厚み方向を1つの探傷画像として見られるようにする。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
送信探触子から超音波を被検査体内に送信し、該被検査体の内部からの回析波を受信探触子で受信して被検査体の厚み方向を超音波探傷し、該超音波探傷する超音波が被検査体内を伝搬した時間を厚み方向距離に対応付けて線形表示の超音波探傷画像に変換し、該変換した超音波探傷画像にパルス反射画像を合成して全体の探傷画像を得る超音波探傷方法。
IPC (2件):
G01N29/22 ,  G01N29/10
FI (2件):
G01N29/22 501 ,  G01N29/10 505
Fターム (10件):
2G047AA07 ,  2G047AB07 ,  2G047BC09 ,  2G047EA10 ,  2G047GA13 ,  2G047GG21 ,  2G047GG35 ,  2G047GH04 ,  2G047GH06 ,  2G047GH09
引用特許:
出願人引用 (6件)
  • 超音波検査装置および方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-359316   出願人:東京電力株式会社
  • 超音波探傷装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-296659   出願人:三菱電機株式会社
  • 特開昭59-197854
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