特許
J-GLOBAL ID：200903091413609217
三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大川 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-207843
公開番号（公開出願番号）：特開2008-032608
出願日： 2006年07月31日
公開日（公表日）： 2008年02月14日
要約：
【課題】被測定物体に模様や外乱光の影響を受けない三次元形状測定装置及びその方法を提供することを目的とする。【解決手段】高輝縞と、高輝縞より輝度の低い低輝縞とが交互に位置する縞パターン光を被測定物体2に投影する投影手段3と、縞パターン光の反射を受像し画像データを出力するカメラ4と、画像データから三次元座標データを生成する計算機5を有する三次元形状測定装置において、計算機5は、画像データの高輝縞及び低輝縞の所定部分で輝度の差が所定値以上であるかどうかの合否を判断する輝度差判断手段50と、否と判断された所定部分の輝度を調節した一部修正縞パターン光を作成する輝度調節手段51と、一部修正縞パターン光を被測定物体に投影することを投影手段3に命令する再投影命令手段52と、一部修正縞パターン光の反射を受像し画像データを出力する再受像命令手段53を有することを特徴とする。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
高輝縞と、該高輝縞より輝度の低い低輝縞とが交互に位置する縞パターン光を被測定物体に投影する投影手段と、該被測定物体にあたった該縞パターン光の反射を受像し画像データを出力するカメラと、該画像データから三次元座標データを生成する三次元座標データ生成手段を有する計算機と、を有する三次元形状測定装置において、
前記計算機は、前記画像データの前記高輝縞及び前記低輝縞の所定部分で輝度の差が所定値以上であるかどうかの合否を判断する輝度差判断手段と、該輝度差判断手段の否判断結果により前記縞パターン光の否判断された所定部分の輝度を調節した一部修正縞パターン光を作成する輝度調節手段と、該一部修正縞パターン光を前記被測定物体に投影することを前記投影手段に命令する再投影命令手段と、該被測定物体にあたった該一部修正縞パターン光の反射を受像し画像データを出力することを前記カメラに命令する再受像命令手段と、を有することを特徴とする三次元形状測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (20件)：
2F065AA04
, 2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065DD12
, 2F065EE04
, 2F065FF01
, 2F065FF02
, 2F065FF06
, 2F065FF09
, 2F065HH06
, 2F065HH12
, 2F065JJ03
, 2F065JJ09
, 2F065JJ26
, 2F065LL41
, 2F065NN01
, 2F065NN17
, 2F065QQ03
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
