特許
J-GLOBAL ID：200903078808817360

3次元形状測定装置および方法

発明者：
三宅 弘之

三宅 弘之 について

, 
伊興田 哲男

伊興田 哲男 について


出願人/特許権者：
富士ゼロックス株式会社

富士ゼロックス株式会社 について


代理人 (3件)： 澤田 俊夫 ,  宮田 正昭 ,  山田 英治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-278039
公開番号（公開出願番号）：特開2005-043233
出願日： 2003年07月23日
公開日（公表日）： 2005年02月17日
要約：
【課題】 ストライプの階調数を増やした場合でもストライプ間の強度差が小さくならないようにする。 【解決手段】 投影パターンは256階調を6段階に分けた7種類の輝度ストライプの組み合わせであるが,隣り合うストライプ同士が1段階のレベル差にならないように配置する。これは隣り合うストライプ同士のレベル差に限っては256階調を3段階(0,85,170,255の4レベル)に分けたことと同等である。7レベルのストライプを用い,しかも,隣り合うストライプ同士が1段階のレベル差にならないように配置すると,1セット中で,隣り合うストライプの同じ組み合わせが出現しないようにするのに,1セットのストライプ数を28程度にすることができ,少なくとも28ストライプの範囲では同一の隣り合うストライプの組み合わせが重複することはなく,さらにストライプ間の強度差が十分に大きいので,コード探索エラーの確率等が減少する。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
全白から全黒までを実質的に等間隔に区切った複数レベルの輝度でコード化されたストライプパターンを被写体に投影する投光器の光軸からずれて配置されるカメラで前記被写体を撮影することに基づいて,前記被写体の3次元画像を得る3次元形状測定装置において,隣接する2つのストライプの輝度レベル差が2レベル以上となるように配列したストライプパターンを使用することを特徴とする3次元形状測定装置。
IPC (2件)：
G01B11/25 ,  G06T1/00
FI (2件)：
G01B11/24 E ,  G06T1/00 420F
Fターム (21件)：
2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065FF07 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ26 ,  2F065NN01 ,  2F065QQ24 ,  2F065UU01 ,  2F065UU02 ,  2F065UU05 ,  5B047AA07 ,  5B047AB02 ,  5B047BB04 ,  5B047BB06 ,  5B047BC11 ,  5B047CB11 ,  5B047CB23 ,  5B047DC06
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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