特許
J-GLOBAL ID:200903091418929350

物体形状認識方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小林 脩
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-015829
公開番号(公開出願番号):特開2003-214824
出願日: 2002年01月24日
公開日(公表日): 2003年07月30日
要約:
【要約】【課題】 物体の2次元形状と3次元形状とを一つの装置で同時に認識する。【解決手段】 物体とカメラとが測定基準面に沿って走行方向に移動され、物体とカメラとの相対位置に連動してスリット光が物体上につくるスリット光反射像がカメラで撮像されて各相対位置における画像が記憶される。各画像におけるスリット光反射像とスリット光が測定基準面上につくるスリット光反射基準像との関係から物体の高さが算出され、物体の高さ寸法を認識する3次元画像処理が行なわれる。各画像におけるスリット光反射基準像の中央部分を撮像した画素列の撮像内容を合成して物体の2次元画像が作成され、該2次元画像を処理して物体の2次元形状を認識する2次元画像処理が行なわれる
請求項(抜粋):
形状認識される物体を測定基準面上に位置し、該物体を撮像するカメラを前記測定基準面に対向して配置し、前記物体と前記カメラとを前記測定基準面に沿って走行方向に相対的に移動し、前記カメラの光軸と所定角度をなすスリット光を発して前記物体を前記走行方向と交叉する方向に横切って照射するスリット光源を前記カメラに対して一定位置関係で設け、前記物体と前記カメラとの相対位置に連動して前記スリット光が前記物体上につくるスリット光反射像を前記カメラで撮像して各相対位置における画像を記憶し、各画像における前記スリット光反射像の位置と前記スリット光が前記測定基準面上につくるスリット光反射基準像との関係から前記物体の高さを算出して前記物体の高さ寸法を認識する3次元画像処理を行なうとともに、各画像における前記スリット光反射基準像の中央部分を撮像した画素列の撮像内容を合成して前記物体の2次元画像を作成し、該2次元画像を処理して前記物体の2次元形状を認識する2次元画像処理を行なうことを特徴とする物体形状認識方法。
IPC (2件):
G01B 11/24 ,  H05K 13/04
FI (4件):
H05K 13/04 M ,  G01B 11/24 F ,  G01B 11/24 K ,  G01B 11/24 A
Fターム (55件):
2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA07 ,  2F065AA24 ,  2F065AA53 ,  2F065AA54 ,  2F065BB13 ,  2F065CC27 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065FF23 ,  2F065FF26 ,  2F065GG02 ,  2F065GG06 ,  2F065GG07 ,  2F065GG16 ,  2F065HH05 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065KK01 ,  2F065LL22 ,  2F065LL28 ,  2F065MM03 ,  2F065PP03 ,  2F065PP11 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ24 ,  2F065SS04 ,  2F065TT04 ,  2F065UU01 ,  2F065UU02 ,  2F065UU05 ,  2F065UU06 ,  5E313AA03 ,  5E313AA04 ,  5E313AA11 ,  5E313AA23 ,  5E313CC03 ,  5E313CC04 ,  5E313DD03 ,  5E313DD13 ,  5E313EE02 ,  5E313EE03 ,  5E313EE24 ,  5E313EE35 ,  5E313EE37 ,  5E313EE38 ,  5E313FF24 ,  5E313FF25 ,  5E313FF26 ,  5E313FF28 ,  5E313FF33 ,  5E313FF34 ,  5E313FG10
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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