外観検査装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小鍜治明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-294307
公開番号（公開出願番号）：特開平8-152412
出願日： 1994年11月29日
公開日（公表日）： 1996年06月11日
要約：

【要約】【構成】 TABテープ19からの反射光を、カラーCCDカメラ4により撮像する。このとき、照明3またはカラーCCDカメラ4の絞りは、レジスト、樹脂封止等の信号レベルの小さい対象物の信号が十分見分けられるレベルに調整する。画像はカラー画像処理部14に渡され、色座標変換部15にて輝度および色度の情報に変換される。その際、制御部10は検査データ保持部18に保持されている検査データを解読して、検査データ中に記述されている色座標を指定するデータに基づいて、色座標データ保持部17より色座標データを読み込む。色座標データは色座標変換部15に渡され、検査対象に応じた色座標変換を行う。色座標変換された画像情報は色抽出部16において、撮像画面毎に検査データ保持部18に記憶してある2値化しきい値に応じて2値処理を行う。次いで判定部8において2値画像処理を行い良否を判定する。

請求項（抜粋）：

カラー画像を撮像する撮像手段と、前記撮像手段により撮像された被撮像物の色の3原色を変換する色座標変換手段と、色座標変換手段において色の3原色のうち最も撮像手段における光量感度がにぶい青色からのみ輝度を演算するようにしたことを特徴とする外観検査装置。

IPC (4件)：

G01N 21/88 , G01B 11/24 , H05K 3/34 512 , H05K 13/08

引用特許：

審査官引用 (5件)

プリント基板の検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-198382 出願人：株式会社東芝, 東芝コンピュータエンジニアリング株式会社
地質の調査方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-296048 出願人：株式会社奥村組
実装基板検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-023112 出願人：松下電器産業株式会社

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