特許
J-GLOBAL ID：200903091548729964
パターン照合装置
出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社
松下電器産業株式会社 について
代理人 (1件)： 役 昌明 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-079170
公開番号（公開出願番号）：特開平10-228543
出願日： 1997年03月14日
公開日（公表日）： 1998年08月25日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 照合するパターンの片方に大きな雑音成分があってもロバストな照合ができるパターン照合装置の実現。【解決手段】 雑音成分がないパターン用の標本パターン入力手段101と、雑音成分があるパターン用の標本パターン入力手段102と、入力パターンの標本集合用の記憶手段103、104と、記憶標本集合から対応するパターンをそれぞれ一つずつ取り出しそれらの差のパターンを計算する差パターン生成手段105と、雑音成分のないパターンの標本集合と差のパターンの集合との和集合に対して主成分と主成分方向の分散を表す値を出力する主成分分析手段106と、分析結果記憶手段107と、照合する2つのパターン用の照合パターン入力手段108と、分析結果記憶手段107のデータで、照合パターンの相似度をパターンの主成分方向の成分に重み付けする相似度算出手段109を備え、照合するパターンの片方に大きな雑音成分が加わっている場合でもロバストな照合が実現できる。
請求項（抜粋）：
標本パターンの主成分分析による固有ベクトルと固有値に基づいて照合パターンの相似度を算出してパターン照合をすることにより、照合するパターンの片方に非常に大きな雑音成分が加わっている場合でもロバストな照合が可能であるパターン照合装置において、雑音成分が加わっていないパターンの標本集合を入力するための第1の標本パターン入力手段と、雑音成分が加わっているパターンの標本集合を入力するための第2の標本パターン入力手段と、前記第1の標本パターン入力手段によって入力されたパターンの標本集合を記憶する第1の記憶手段と、前記第2の標本パターン入力手段によって入力されたパターンの標本集合を記憶する第2の記憶手段と、前記第1、第2の記憶手段に記憶されている標本集合から対応するパターンをそれぞれ一つずつ取り出しそれらの差のパターンを計算する動作を繰り返してすべての標本集合から差パターンを生成する差パターン生成手段と、前記第1の記憶手段に格納されているパターンの標本集合と前記差パターン生成手段によって生成される差のパターンの集合とをあわせたパターンの集合に対して主成分分析を行ない主成分と主成分方向の分散を反映した値を出力する主成分分析手段と、前記主成分分析手段から出力されたデータを格納する分析結果記憶手段と、照合する2つのパターンを入力する照合パターン入力手段と、前記分析結果記憶手段に格納されているデータを参照しその結果に基づいて、前記照合パターン入力手段から入力された2つのパターンの相似度をパターンの主成分方向の成分に重み付けして算出する相似度算出手段とを備えることを特徴とするパターン照合装置。
FI (2件)：
引用特許：
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