特許
J-GLOBAL ID：200903091576531665

新規の固相分析方法

発明者：
大竹 和彦

大竹 和彦 について

, 
秋本 雅治

秋本 雅治 について


出願人/特許権者：
株式会社ヤトロン

株式会社ヤトロン について


代理人 (1件)： 森田 憲一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-244765
公開番号（公開出願番号）：特開2003-057243
出願日： 2001年08月10日
公開日（公表日）： 2003年02月26日
要約：
【要約】【課題】 被検試料に含まれる分析対象物質を、簡便に、且つ高感度に分析することのできる分析方法を提供する。【解決手段】 第1の分析方法は、被検試料と、分析対象物質に特異的に結合可能な標識化パートナーとを接触させる工程;得られた反応物を、複合体を担持可能で且つ未反応の標識化パートナーを除去可能な固相支持体と接触させる工程;及び固相支持体上の標識物質に由来する信号を分析する工程を含む。第2の分析方法は、被検試料と、標識化パートナーと、標識化パートナーを除去可能な固相支持体に固定化された別のパートナーとを接触させる工程;及び固相支持体上の標識物質に由来する信号を分析する工程を含む。
請求項（抜粋）：
(1)分析対象物質を含む可能性のある被検試料と、(2)前記分析対象物質に特異的に結合可能であって、しかも、直接又は間接的に標識物質で標識化されたパートナーとを接触させる工程;前記接触により得られた反応物を、前記分析対象物質と前記標識化パートナーとの複合体を担持可能であって、しかも、未反応の前記標識化パートナーを除去可能な固相支持体と接触させる工程;及び前記固相支持体上の前記標識物質に由来する信号を分析する工程を含むことを特徴とする、固相分析方法。
IPC (3件)：
G01N 33/566 ,  G01N 33/543 501 ,  G01N 33/543
FI (4件)：
G01N 33/566 ,  G01N 33/543 501 A ,  G01N 33/543 501 F ,  G01N 33/543 501 P
引用特許：
審査官引用 (3件)

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