特許
J-GLOBAL ID：200903091857891431

半導体レーザ測距装置

発明者：
中村 聡

中村 聡 について


出願人/特許権者：
株式会社ソキア

株式会社ソキア について


代理人 (1件)： 八木 秀人 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-063520
公開番号（公開出願番号）：特開2002-267442
出願日： 2001年03月07日
公開日（公表日）： 2002年09月18日
要約：
【要約】【課題】 中心軸と光量が最大となる発光軸との間にいくらかのずれがあるものが混在する安価なレーザダイオードを用いても、測定誤差を生じず、しかも測定距離が短くならないようにした半導体レーザ測距装置を提供する。【解決手段】 レーザダイオード(10)は、球形の枠体(40)を貫通する貫通孔(40A)内に固定される。測距装置内に固定される中空円筒形のベース(42)の一端側内部にコリメーションレンズ(12)を固定し、他端側内部に枠体(40)を収容する。枠体(40)は、ベース(42)内部の枠体受(44)とベース他端に螺合する袋ナット(50)との間に固定される。袋ナット(50)の締め付け完了直前に枠体(40)を回動させ、レーザダイオード(10)の発光軸(10L)をコリメーションレンズ(12)の光軸(12C)と一致するように調整する。
請求項（抜粋）：
半導体レーザ光を出射する光源の向きを調整可能とし、視準軸上で前記レーザ光の光量が最大となるように調整できることを特徴とする半導体レーザ測距装置。
IPC (8件)：
G01C 3/06 ,  G01B 11/00 ,  G01C 15/00 103 ,  G01S 7/48 ,  G01S 17/32 ,  G02B 7/02 ,  G02B 7/40 ,  G02B 7/28
FI (8件)：
G01C 3/06 Z ,  G01B 11/00 B ,  G01C 15/00 103 D ,  G01S 7/48 A ,  G01S 17/32 ,  G02B 7/02 C ,  G02B 7/11 F ,  G02B 7/11 Z
Fターム (44件)：
2F065AA06 ,  2F065DD04 ,  2F065DD05 ,  2F065FF13 ,  2F065FF31 ,  2F065GG06 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ18 ,  2F065LL02 ,  2F065LL04 ,  2F065LL20 ,  2F065LL47 ,  2F065LL64 ,  2F065NN01 ,  2F065NN08 ,  2F065UU01 ,  2F112AD01 ,  2F112BA07 ,  2F112BA12 ,  2F112CA06 ,  2F112CA12 ,  2F112DA40 ,  2F112GA10 ,  2H044AC01 ,  2H051BB27 ,  2H051CA16 ,  2H051CA18 ,  2H051CC03 ,  2H051CC13 ,  5J084AA05 ,  5J084AD02 ,  5J084BA04 ,  5J084BA36 ,  5J084BB04 ,  5J084BB20 ,  5J084BB31 ,  5J084BB38 ,  5J084CA07 ,  5J084DA01 ,  5J084DA02 ,  5J084DA07 ,  5J084EA01 ,  5J084EA21 ,  5J084EA31
引用特許：
審査官引用 (12件)
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