特許
J-GLOBAL ID:200903092112406767

フォトマスクブランク

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小田島 平吉 (外1名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-504442
公開番号(公開出願番号):特表2000-514205
出願日: 1997年06月30日
公開日(公表日): 2000年10月24日
要約:
【要約】伝送の、減衰された、埋め込まれた、位相器フォトマスクブランクは少なくとも1つの重合体材料、好ましくは非晶性フルオロ重合体または弗素官能基化された有機シラン及び有機シリケートのドープされた非晶性フルオロ重合体、或いはこれらの組合わせ物を含んでなる。但し該重合体材料は、(a)400nm以下の選択されたリソグラフ波長において1.2〜2.0、好ましくは1.26〜1.8の範囲の屈折率(n)、及び(b)400nm以下の選択されたリソグラフ波長において0.04〜0.8、好ましくは0.06〜0.59の範囲の吸光係数(k)、を有する。
請求項(抜粋):
(a)400nm以下の選択されたリソグラフ波長において1.2〜
IPC (2件):
G03F 1/08 ,  H01L 21/027
FI (2件):
G03F 1/08 A ,  H01L 21/30 502 P
引用特許:
審査官引用 (2件)

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