特許

J-GLOBAL ID：200903092226109568

液晶パネルの欠陥画素検査方法及びその装置

発明者： 田中 義規 ,  助則 英智 ,  浅田 勝滋
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 有我 軍一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-062943
公開番号（公開出願番号）：特開平9-257639
出願日： 1996年03月19日
公開日（公表日）： 1997年10月03日
要約：

【要約】【課題】 光源の光量に影響されず、再現性よく正確な判定結果を得る。【解決手段】 パネル背面に光源を有する液晶パネルの欠陥画素の検査方法において、注目画素の周囲に疑似欠陥画素を配置する第1ステップと、表示信号電圧を調節して前記疑似欠陥画素の輝度を前記注目画素の輝度に合わせる第2ステップと、前記第2ステップで両画素の輝度が一致したときの前記表示信号電圧の値を読み取る第3ステップと、該読み取った値で前記液晶パネルの透過率-液晶電圧特性を参照し前記疑似欠陥画素の透過率を求める第4ステップと、を備える。

請求項（抜粋）：

パネル背面に光源を有する液晶パネルの欠陥画素の検査方法において、注目画素の周囲に疑似欠陥画素を配置する第1ステップと、表示信号電圧を調節して前記疑似欠陥画素の輝度を前記注目画素の輝度に合わせる第2ステップと、前記第2ステップで両画素の輝度が一致したときの前記表示信号電圧の値を読み取る第3ステップと、該読み取った値で前記液晶パネルの透過率-液晶電圧特性を参照し前記疑似欠陥画素の透過率を求める第4ステップと、を備えたことを特徴とする液晶パネルの欠陥画素の検査方法。

IPC (4件)：

G01M 11/00 ,  G01R 31/00 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1335 530

FI (4件)：

G01M 11/00 T ,  G01R 31/00 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1335 530

引用特許：

審査官引用 (2件)

• カラー液晶パネル欠陥検査方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-021126   出願人：シャープ株式会社
• 液晶パネル用疑似欠陥発生装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-359185   出願人：ソニー株式会社