光学フィルムの検査方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：森田順之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-267903
公開番号（公開出願番号）：特開2009-097915
出願日： 2007年10月15日
公開日（公表日）： 2009年05月07日
要約：

【課題】面内位相差をRe、厚さ方向の位相差をRthとしたとき、Re≦20nmかつ|Rth|≧20nmを満たす液晶フィルムを含む光学フィルムの欠陥の検査を的確に行うことができる光学フィルムの検査方法を提供する。【解決手段】下記式を満たす第1液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法であって、前記光学フィルムに対し、光源から第1偏光板を通して光を照射し、前記光学フィルムに対して、前記光源と反対側に1軸延伸フィルムからなる第1位相差フィルムと第2偏光板とを積層した欠陥検査用素子を、前記第1位相差フィルムを前記光学フィルム側に隣接するように配置し、前記光学フィルムを検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法。 Re≦20[nm] |Rth|≧20[nm](ここで、Reは前記第1液晶フィルムの面内の位相差値、Rthは前記第1液晶フィルムの厚さ方向の位相差を意味する。)【選択図】図3

請求項（抜粋）：

下記式を満たす第1液晶フィルムを含む光学フィルムの検査方法であって、前記光学フィルムに対し、光源から第1偏光板を通して光を照射し、前記光学フィルムに対して、前記光源と反対側に1軸延伸フィルムからなる第1位相差フィルムと第2偏光板とを積層した欠陥検査用素子を、前記第1位相差フィルムを前記光学フィルム側に隣接するように配置し、前記光学フィルムを検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法。 Re≦20[nm] |Rth|≧20[nm] (ここで、Reは前記第1液晶フィルムの面内の位相差値を意味し、Rthは前記第1液晶フィルムの厚さ方向の位相差を意味する。前記Re及びRthは、それぞれRe=(Nx-Ny)×d[nm]、Rth={(Nx+Ny)/2-Nz}×d[nm]である。また、dは前記第1液晶フィルムの厚さ、Nx,Nyは前記第1液晶フィルムの面内の主屈折率、Nzは厚さ方向の主屈折率であり、Nx>Nyである。)

IPC (4件)：

G01N 21/892 , G01N 21/89 , G02B 5/30 , G02F 1/133

FI (4件)：

G01N21/892 A , G01N21/89 H , G02B5/30 , G02F1/13363

Fターム (25件)：

2G051AA41 , 2G051AA73 , 2G051AB01 , 2G051AB02 , 2G051BA08 , 2G051BA11 , 2G051BB07 , 2G051CA01 , 2G051CA11 , 2G051CB02 , 2G051CC07 , 2G051EA16 , 2H049BA06 , 2H049BA42 , 2H049BB03 , 2H049BC22 , 2H091FA08X , 2H091FA08Z , 2H091FA11X , 2H091FB02 , 2H091FC07 , 2H091KA02 , 2H091KA10 , 2H091LA12 , 2H091LA30

引用特許：

出願人引用 (2件)

横電界方式の液晶表示装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-292856 出願人：日本電気株式会社
液晶表示装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-133547 出願人：シャープ株式会社

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