特許
J-GLOBAL ID：200903092452921208
半導体集積回路装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
佐藤 一雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-272771
公開番号（公開出願番号）：特開2001-091594
出願日： 1999年09月27日
公開日（公表日）： 2001年04月06日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 比較的簡単な回路で、メガセルおよび外部の論理ブロックの故障検出を行うことを可能とする。【解決手段】 メガセル1から出力されるべきデータD1〜D4毎に対応して、複数のフリップフロップ181〜184を配置し、クロック信号CPに同期して、データを出力信号OUT1〜4として外部に送出するよう構成する。スキャン用クロックCPS1、CPS2に基づいて、各フリップフロップの状態を、順次直列に伝達するようにスキャンパスを構成し、入力端子141を通じて外部から前記スキャンパスの先頭段のフリップフロップ181にスキャン入力データSIDを与え、これを入力端子143、142を通じて外部から供給されるスキャン用クロックCPS1、CPS2に基づいて順次転送し、最終段のフリップフロップ184の状態を出力端子45を介してスキャン出力データSODとして外部に出力する。
請求項（抜粋）：
予め準備されたライブラリから選択された論理構成を有するメガセルの信号出力部において、このメガセルの出力信号毎に対応して配置され、出力クロック信号に同期してメガセルの出力信号を、メガセル外部に送出する複数のフリップフロップを有し、スキャンクロックに基づいて、前記各フリップフロップの状態を、あるフリップフロップから別のフリップフロップに、順次直列に伝達するスキャンパスが形成されており、前記スキャンパスの先頭段のフリップフロップに任意のデータパターンを外部から入力すると共に前記スキャンパスの最終段のフリップフロップの状態を外部に出力し、併せて、前記スキャンパスをスキャン動作させるべく前記各フリップフロップに与えるためのクロック信号を外部から供給する入出力端子群を備えることを特徴とする半導体集積回路装置。
IPC (2件)：
G01R 31/28
, G06F 11/22 360
G06F 11/22 360 P
, G01R 31/28 G
2G032AA01
, 2G032AA04
, 2G032AC10
, 5B048AA20
, 5B048CC18
, 5B048DD01
, 5B048DD05
, 5B048DD07
, 9A001LL05
