特許
J-GLOBAL ID：200903092543499452
情報処理方法および装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
大塚 康徳
, 高柳 司郎
, 大塚 康弘
, 木村 秀二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-221466
公開番号（公開出願番号）：特開2007-034985
出願日： 2005年07月29日
公開日（公表日）： 2007年02月08日
要約：
【課題】 指標をカメラの光軸に対して垂直な平面に配置しなくてもカメラに係るパラメータをより正確に校正する為の技術を提供すること。【解決手段】 複数の指標が含まれるパターン画像から指標を検出し、検出された指標の撮影画像における第1の位置を求める(S502)。撮像装置に係るパラメータを用いて撮影画像における指標の位置を示す第2の位置を計算する(S505)。撮像装置のレンズの放射性わい曲歪みのパラメータを固定した状態で、第1の位置と第2の位置との差を用いて、撮像装置のレンズの放射性わい曲歪みのパラメータ以外のパラメータを補正する(S506)。補正されたパラメータを用いて撮影画像における指標の位置を示す第3の位置を求める(S509)。第1の位置と第3の位置との差を用いて、放射性わい曲歪みのパラメータを補正する(S510)。【選択図】 図5
請求項（抜粋）：
複数の指標が含まれるパターン画像を撮像装置により撮影することで得られる撮影画像を取得する取得工程と、
前記撮影画像から前記指標を検出し、前記検出された指標の該撮影画像における第1の位置を求める検出工程と、
前記撮像装置に係るパラメータを用いて前記撮影画像における前記指標の位置を示す第2の位置を計算する計算工程と、
前記パラメータに含まれる前記撮像装置のレンズの放射性わい曲歪みのパラメータを固定した状態で、前記第1の位置と前記第2の位置との差を用いて、前記撮像装置のレンズの放射性わい曲歪みのパラメータ以外の前記パラメータを補正する第1の補正工程と、
前記第1の補正工程で補正されたパラメータを用いて前記撮影画像における前記指標の位置を示す第3の位置を計算する第2の計算工程と、
前記第1の位置と前記第3の位置との差を用いて、前記放射性わい曲歪みのパラメータを補正する第2の補正工程とを備えることを特徴とする情報処理方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06T3/00 200
, H04N5/232 Z
5B057AA01
, 5B057CA12
, 5B057CB12
, 5B057CD12
, 5B057CH01
, 5C122DA03
, 5C122DA04
, 5C122EA32
, 5C122FH06
, 5C122FH11
, 5C122FK24
, 5C122HA88
, 5C122HB01
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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