特許

J-GLOBAL ID：200903092666739598

吸光分析用試薬と、この吸光分析用試薬を用いたハロゲン化物イオンの吸光分析方法、アジ化物イオンの吸光分析方法およびチオシアン酸イオンの吸光分析方法

発明者： 加納 航治 ,  山田 晃久 ,  田村 繁人 ,  藤井 茂太 ,  北岸 宏亮
出願人/特許権者： 学校法人同志社
代理人 (1件)： 杉本 勝徳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-049487
公開番号（公開出願番号）：特開2005-098963
出願日： 2004年02月25日
公開日（公表日）： 2005年04月14日
要約：

【課題】維持管理が容易な吸光光度分析装置を用いて、精度よくかつ高感度でハロゲン化物イオン濃度、アジ化物イオン濃度およびチオシアン酸イオン濃度を測定できる吸光分析用試薬およびハロゲン化物イオンの吸光分析方法、アジ化物イオンの吸光分析方法およびチオシアン酸イオンの吸光分析方法を提供することを目的としている。【解決手段】各グルコピラノース基中の少なくとも2,3位の水酸基がメトキシ基で置換されてなるβ-シクロデキストリン誘導体またはγ-シクロシクロデキストリン誘導体が、アニオン性ポルフィリン鉄(III)錯体を包接してなる包接錯体を含み酸性領域に調整されていることを特徴としている。【選択図】 なし

請求項（抜粋）：

各グルコピラノース基中の少なくとも2,3位の水酸基がメトキシ基で置換されてなるβ-シクロデキストリン誘導体またはγ-シクロシクロデキストリン誘導体が、アニオン性ポルフィリン鉄(III)錯体を包接してなる包接錯体を含み酸性領域に調整された吸光分析用試薬。

IPC (3件)：

G01N33/84 ,  G01N21/77 ,  G01N21/78

FI (3件)：

G01N33/84 Z ,  G01N21/77 Z ,  G01N21/78 Z

Fターム (8件)：

2G045DB15 ,  2G045DB30 ,  2G045FB20 ,  2G045GC10 ,  2G054AA07 ,  2G054CA10 ,  2G054CE10 ,  2G054EA04

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 塩素イオン濃度の測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-255173   出願人：株式会社トクヤマ, 株式会社エイアンドティー
• 特開平2-059665
  

審査官引用 (1件)

• 特開平2-059665
  

引用文献：

出願人引用 (1件)

• 水溶液中におけるFe(III)テトラキス(4-スルフォナトフェニル)ポルフィリンとシクロデキストリンの包接錯体

審査官引用 (1件)

• 水溶液中におけるFe(III)テトラキス(4-スルフォナトフェニル)ポルフィリンとシクロデキストリンの包接錯体