特許
J-GLOBAL ID：200903092758617782
3次元形状測定方法及びその装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
足立 勉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-217784
公開番号（公開出願番号）：特開2006-038590
出願日： 2004年07月26日
公開日（公表日）： 2006年02月09日
要約：
【課題】大きな被測定物であっても誤差の累積がなく、精度よく光学的に3次元測定できる3次元形状測定方法を得る。【解決手段】カメラ4により被測定物1を撮像して、カメラ4の撮像領域S内の被測定物1の3次元形状を測定する。その際、被測定物1に沿って配置され複数のマークMが設けられた長尺状のリファレンスバー14,16と、カメラ4を移動可能に支持する移動機構18とを設ける。そして、移動機構18に支持されたカメラ4を移動して、異なる箇所で少なくとも2つのマークMを含む被測定物1を撮像した撮像領域Sのそれぞれの測定値をマークMに基づいて同一座標系に変換して、被測定物1の3次元形状を測定する。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
カメラにより被測定物を撮像して、前記カメラの撮像領域内の前記被測定物の3次元形状を測定する3次元形状測定方法において、
間隔が既知の複数のマークが設けられた長尺状のリファレンスバーを前記被測定物に沿って配置し、前記カメラにより前記リファレンスバーの前記マークを少なくとも2個含む撮像領域で前記被測定物を撮像し、更に、前記カメラを移動して異なる箇所で少なくとも前記マークを2個含む撮像領域で前記被測定物を撮像し、前記被測定物を撮像した前記撮像領域のそれぞれの測定値を前記マークに基づいて同一座標系に変換して、前記被測定物の3次元形状を測定することを特徴とする3次元形状測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (17件)：
2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065CC11
, 2F065FF06
, 2F065HH06
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL41
, 2F065LL50
, 2F065MM06
, 2F065PP22
, 2F065QQ03
, 2F065QQ23
, 2F065QQ28
, 2F065SS13
, 2F065TT08
, 2F065UU07
出願人引用 (2件)
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特開昭53-68267号公報
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特開昭61-260107号公報
審査官引用 (7件)
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物体の3次元形状測定方法及び装置
公報種別：公表公報
出願番号：特願2001-584823
出願人：シュタインビフラーオプトテヒニクゲーエムベーハー
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特開平4-184203
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特開平4-184203
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