特許
J-GLOBAL ID：200903092920888779
EL表示装置のレーザリペア方法、EL表示装置のレーザリペア装置、プログラム、および記録媒体
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松田 正道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-207007
公開番号（公開出願番号）：特開2008-034264
出願日： 2006年07月28日
公開日（公表日）： 2008年02月14日
要約：
【課題】滅点素子にレーザを照射する回数および場所を少なくするとともに、効率の良い有機EL表示装置のレーザリペア方法を提供すること。【解決手段】EL表示装置の画素を点灯させ、点灯した画素中に滅点素子が存在する場合、滅点素子が存在する画素を特定する工程と、滅点素子が存在する画素において、欠陥の可能性がある部分を特定する工程(ステップS25)と、欠陥の可能性がある部分が特定されたEL表示装置を点灯させながら、欠陥の可能性がある部分にレーザを照射する工程(ステップS27)とを備え、前記レーザを照射する工程を、滅点素子が点灯するまで、または全ての欠陥の可能性がある部分に照射するまで繰り返す(ステップS26〜S28)。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
EL表示装置の画素を点灯させ、点灯した前記画素中に滅点素子が存在する場合、前記滅点素子が存在する画素を特定する工程と、
前記滅点素子が存在する画素において、欠陥の可能性がある部分を特定する工程と、
前記欠陥の可能性がある部分が特定された前記EL表示装置の画素を点灯させながら、前記欠陥の可能性がある部分にレーザを照射する工程とを備え、
前記レーザを照射する工程を、前記滅点素子が点灯するまで、または所定の回数繰り返す、EL表示装置のレーザリペア方法。
IPC (6件)：
H05B 33/10
, H01L 51/50
, G09F 9/00
, G09F 9/30
, H01L 27/32
, H05B 33/12
H05B33/10
, H05B33/14 A
, G09F9/00 352
, G09F9/30 365Z
, H05B33/12 Z
3K107AA01
, 3K107BB01
, 3K107CC29
, 3K107CC45
, 3K107GG14
, 3K107GG56
, 3K107GG57
, 5C094AA41
, 5C094BA27
, 5G435AA19
, 5G435BB05
, 5G435KK10
