特許
J-GLOBAL ID：200903092942691170

半導体レーザモジュールの制御装置及びその制御方法

発明者：
佐藤 和芳

佐藤 和芳 について


出願人/特許権者：
日本電気株式会社

日本電気株式会社 について


代理人 (1件)： 加藤 朝道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-128276
公開番号（公開出願番号）：特開2000-323785
出願日： 1999年05月10日
公開日（公表日）： 2000年11月24日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】半導体レーザが劣化してレーザ駆動電流が増加しても、半導体レーザの実際の温度が一定になるように温度制御し、温度変化に伴う発振波長の変化を防止する半導体レーザモジュールの制御装置と制御方法の提供。【解決手段】半導体レーザの光強度を検出するフォトダイオード2からの出力により半導体レーザの駆動電流を制御する光出力安定化回路と、半導体レーザ近傍に設置されるサーミスタ6からの出力により半導体レーザを冷却する電子冷却器を駆動する温度制御回路と、に接続され、光安定化回路から出力されるレーザの駆動電流を検出する電流量検出回路11を有し、温度制御回路に予め記憶された、駆動電流に対する半導体レーザの実際の温度の実測データと、電流量検出回路から出力されるレーザの駆動電流情報と、サーミスタから出力される温度情報とを比較演算し、半導体レーザの実際の温度が一定になるように電子冷却器の駆動電流を設定する。
請求項（抜粋）：
半導体レーザと、該半導体レーザの光強度を検出する光検出器と、該光検出器からの出力により前記半導体レーザの駆動電流を制御する光出力安定化手段と、前記半導体レーザ近傍に設置される温度検出器と、該温度検出器からの出力により前記半導体レーザを冷却する電子冷却器を駆動する温度制御手段と、を少なくとも有する半導体レーザモジュール制御装置において、前記半導体レーザの駆動電流の情報と、前記温度検出器から出力される温度情報とから、前記半導体レーザの実際の温度を予測する手段を設けた、ことを特徴とする半導体レーザモジュール制御装置。
IPC (2件)：
H01S 5/0687 ,  H01S 5/024
FI (2件)：
H01S 3/18 638 ,  H01S 3/18 614
Fターム (8件)：
5F073BA02 ,  5F073EA03 ,  5F073EA15 ,  5F073FA06 ,  5F073GA02 ,  5F073GA12 ,  5F073GA14 ,  5F073GA23
引用特許：
審査官引用 (9件)
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