特許
J-GLOBAL ID：200903093999384947
超音波多重エコー計測装置
発明者：
,
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出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
波多野 久
, 関口 俊三
, 猿渡 章雄
, 古川 潤一
, 河村 修
, 山田 毅彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-296901
公開番号（公開出願番号）：特開2008-116209
出願日： 2006年10月31日
公開日（公表日）： 2008年05月22日
要約：
【課題】被測定物の板厚や材料特性値の計測を非接触かつ非破壊で精度よく行なうことができる超音波多重エコー計測装置を提供する。【解決手段】レーザ超音波法を利用した超音波多重エコー計測装置20において、被測定物24の材料に照射することで材料中に超音波を発生せしめるための送信レーザ光のスポット口径aと被測定物24の材料を伝播した超音波を検出する受信レーザ光のスポット口径bの少なくとも一方を、被測定物の板厚d、利用する超音波波長λ0との関係から調整する機能を備えることにより、超音波多重エコー信号の減衰を極小とする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被測定物の材料に照射することで材料中に超音波を発生せしめる送信レーザ光源と、
前記送信レーザ光源から発振した送信レーザ光を被測定物の材料に照射する照射光学系と、
前記被測定物の材料を伝播した超音波を検出する受信レーザ光源と、
前記受信レーザ光源から発振した受信レーザ光を前記送信レーザ光の照射位置と同位置もしくはその近傍に照射し、その反射光を捕集する照射・集光光学系と、
前記照射・集光光学系で補集した前記受信レーザ光の反射成分から超音波信号成分を検出するための超音波受信用光学手段と、
前記超音波受信用光学手段で光学的に検出された超音波信号を電気信号に変換する光電変換手段と、
前記光電変換手段の出力信号を入力信号とし、前記被測定物の材料中を伝播した超音波信号の信号変換処理、信号処理、特徴量抽出処理、表示処理および記録処理の少なくとも一つの処理機能を有する信号処理手段とから構成され、
前記照射光学系および照射集光光学系の少なくとも一方は、前記被測定物の材料表面に対して前記照射光学系によって照射される前記送信レーザ光のスポット口径a、前記被測定物の材料表面に対して前記照射・集光光学系によって照射される前記受信レーザ光のスポット口径b、前記被測定物の材料の板厚d、利用する超音波波長λ0として、
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B17/02 Z
, G01N29/00 501
2F068AA28
, 2F068BB01
, 2F068FF03
, 2F068FF25
, 2F068GG07
, 2F068HH01
, 2F068TT07
, 2G047AA05
, 2G047AB04
, 2G047BA03
, 2G047BA04
, 2G047BB01
, 2G047BC02
, 2G047BC03
, 2G047BC04
, 2G047BC18
, 2G047CA04
, 2G047CB01
, 2G047CB02
, 2G047DA01
, 2G047EA10
, 2G047GD01
