特許
J-GLOBAL ID：200903094023320070
光線路試験システム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井出 直孝 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-174546
公開番号（公開出願番号）：特開2002-368695
出願日： 2001年06月08日
公開日（公表日）： 2002年12月20日
要約：
【要約】【課題】 光合分波素子による通信光および試験光の透過損失を低減し、かつ、試験光の十分な遮断量を得る。【解決手段】 試験光の波長を含む所定の波長はほぼ反射させこの所定の波長以外の波長はほぼ透過させる反射手段と、前記試験光を当該反射手段に入射させ前記試験光の戻り光の当該反射手段による反射光が自己に入射する第一の光導波路と、前記試験光の当該反射手段による反射光が自己に入射し前記試験光の戻り光を当該反射手段に入射させる第二の光導波路とを備え、前記第二の光導波路は、前記光線路に介挿される。さらに、前記試験光の波長を含む所定の波長以外の波長はほぼ透過させる光フィルタ手段を前記光線路の非試験区間側の前記反射手段近傍に設ける。
請求項（抜粋）：
光線路を伝搬する通信光に試験光を合波させ通信光に合波されたこの試験光を分波する光合分波手段を備えた光線路試験システムにおいて、前記光合分波手段は、前記試験光の波長を含む所定の波長はほぼ反射させることにより遮断しこの所定の波長以外の波長はほぼ透過させる反射手段と、前記試験光を当該反射手段に入射させ前記試験光の戻り光の当該反射手段による反射光が自光導波路に入射する第一の光導波路と、前記試験光の当該反射手段による反射光が自光導波路に入射し前記試験光の戻り光を当該反射手段に入射させる第二の光導波路とを備え、前記第二の光導波路は、前記光線路に介挿されたことを特徴とする光線路試験システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01M 11/00 R
, H04B 9/00 K
2G086CC02
, 2G086CC06
, 5K002BA05
, 5K002BA21
, 5K002DA02
, 5K002EA06
