特許
J-GLOBAL ID：200903094170652932

計測装置、コンピュータ数値制御装置及びプログラム

発明者：
鈴木 建彦

鈴木 建彦 について


出願人/特許権者：
富士通株式会社

富士通株式会社 について


代理人 (1件)： 原田 一男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-194470
公開番号（公開出願番号）：特開2005-098985
出願日： 2004年06月30日
公開日（公表日）： 2005年04月14日
要約：
【課題】 系統誤差を除去し簡易且つ迅速な校正作業を可能とする。【解決手段】 格子パターンを投影する投影部1と、カメラ4と、校正時に複数の高さの平面2毎に当該平面2上に投影され且つ撮影された投影格子パターンの撮影画像からカメラ4の受光面42上の座標と光強度と平面2の高さの組を複数含む第1の集合を生成する手段53と、光強度を投影格子パターンの位相角に変換し、受光面42上の座標と位相角と高さの組を複数含む第2の集合を生成する手段53と、第2の集合のデータからテンソル積型複合超曲面を表すデータを生成する手段55と、測定時に被測定物体に対して投影され且つ撮影された投影格子パターンの撮影画像から受光面42上の座標と光強度の組のデータを抽出し、光強度を投影格子パターンの位相角に変換し、受光面42における座標と位相角の組のデータを生成し、テンソル積型複合超曲面を表すデータを用いて高さデータを補間計算する手段56とを有する。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
所定の格子パターンを投影する投影手段と、 撮影手段と、 校正時に複数の高さの面毎に前記投影手段により当該面上に投影され且つ前記撮影手段により撮影された投影格子パターンの撮影画像から、前記撮影手段の受光面において各前記面に共通の縦方向個数及び横方向個数存在する点の座標と当該点の光強度と前記高さとからなる組を含む第1の集合を生成し、当該第1の集合のデータを記憶装置に格納する手段と、 前記光強度を前記投影格子パターンの位相角に変換し、前記受光面における前記点の座標と前記位相角と前記高さとからなる組を含み且つ各組をノードとして矩形グリッドを構成するための第2の集合のデータを記憶装置に格納する手段と、 を有する計測装置。
IPC (2件)：
G01B11/25 ,  G01B11/24
FI (2件)：
G01B11/24 E ,  G01B11/24 K
Fターム (9件)：
2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD06 ,  2F065FF07 ,  2F065HH05 ,  2F065JJ19 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU05
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (4件)
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