特許
J-GLOBAL ID:200903094482158633

非接触画像測定機の測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 高矢 諭 ,  松山 圭佑 ,  牧野 剛博
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-372229
公開番号(公開出願番号):特開2006-177816
出願日: 2004年12月22日
公開日(公表日): 2006年07月06日
要約:
【課題】非接触測定機の測定範囲よりも広い範囲を、非接触測定機を移動しながら簡単且つ高精度に測定できるようにする。【解決手段】複数のマーカー42、46をワーク設置用プレート40上に分散配置して、値付けし、該プレート40上に配置したワーク30、30’、30a、30b、30cを、前記マーカー42、46の一部も測定範囲14に含めて、非接触測定機10により測定し、前記マーカー42、46の位置とワーク30の関係により、各測定点の測定値を合成する。【選択図】図3
請求項(抜粋):
非接触画像測定機の測定範囲よりも広い範囲を測定するに際して、 複数のマーカーを、平面板又はシート上に分散配置して、値付けし、 該平面板又はシート上に配置した測定対象を、前記マーカーの一部も測定範囲に含めて、非接触画像測定機により測定し、 前記マーカーの位置と測定対象の関係により、各測定点の測定値を合成することを特徴とする非接触画像測定機の測定方法。
IPC (1件):
G01B 11/24
FI (1件):
G01B11/24 K
Fターム (13件):
2F065AA51 ,  2F065BB01 ,  2F065BB27 ,  2F065DD00 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ19 ,  2F065LL50 ,  2F065MM06 ,  2F065PP11 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR10 ,  2F065UU05 ,  2F065UU09
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (4件)
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