配線基板の検査方法及び液晶装置の製造方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：鈴木喜三郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-097996
公開番号（公開出願番号）：特開平11-295755
出願日： 1998年04月09日
公開日（公表日）： 1999年10月29日
要約：

【要約】【課題】配線パターンがファインピッチになる場合でも、各配線パターンに検査用プローブを接触させて検査ができるようにする。【解決手段】複数の配線パターン7aにつながる端子部8が狭い間隔で隣り合うように配列された配線基板12aの検査方法である。複数の配線パターン7aの端子部8のうち互いに隣り合うものが互いに異なる長さとなるように配線パターン7aを形成し、互いに隣り合っていて長さの異なる複数の端子部8に検査用プローブを位置的にずらせて接触させて検査を行う。端子部8がファインピッチになっても、検査用プローブの間隔を大きくとることができるので、検査用プローブを用いて簡単に検査を行うことができる。

請求項（抜粋）：

複数の配線パターンが狭い間隔で隣り合うように配列された配線基板の検査方法であって、前記複数の配線パターンの端子部のうち互いに隣り合うものが互いに異なる長さとなるように前記配線パターンを形成し、互いに隣り合っていて長さの異なる複数の端子部に検査用プローブを位置的にずらせて接触させて検査を行うことを特徴とする配線基板の検査方法。

IPC (4件)：

G02F 1/1345 , G01R 31/00 , G02F 1/13 101 , G09F 9/00 352

FI (4件)：

G02F 1/1345 , G01R 31/00 , G02F 1/13 101 , G09F 9/00 352

引用特許：

審査官引用 (7件)

特開昭59-220717
液晶表示デバイス
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-287337 出願人：松下電器産業株式会社
プローブ
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-233712 出願人：日東電工株式会社

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