特許

J-GLOBAL ID：200903095094342437

表面プラズモン共鳴測定装置

発明者： 中村洋之 ,  永田良平
出願人/特許権者： 大日本印刷株式会社
代理人 (1件)： 蛭川 昌信 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-264661
公開番号（公開出願番号）：特開2000-097848
出願日： 1998年09月18日
公開日（公表日）： 2000年04月07日
要約：

【要約】【課題】 表面プラズモン測定において、マッチングオイルを不要とし、測定作業を簡単化する。【解決手段】 所定ピッチで複数のプリズム、シリンドリカルレンズ、或いはマイクロレンズアレイが形成されたシート12、13、14上に、光を照射したとき表面プラズモン共鳴を生ずる金属層11を一体に積層したものである。

請求項（抜粋）：

所定ピッチで複数のプリズムが形成されたプリズムシート上に、光を照射したとき表面プラズモン共鳴を生ずる金属層を一体に積層した表面プラズモン共鳴測定装置。

Fターム (9件)：

2G059AA02 ,  2G059BB10 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE20 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ06 ,  2G059JJ11 ,  2G059KK03

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平2-017431
  
• 光学的分析装置用測定チップ及びその製造方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-323098   出願人：大日本印刷株式会社
• 減衰全反射測定装置およびそれを用いた特定成分の測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-229816   出願人：松下電器産業株式会社
• 特開昭63-075542