特許
J-GLOBAL ID：200903096225683347
テストプログラム作成装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
宮田 金雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-225176
公開番号（公開出願番号）：特開平10-068760
出願日： 1996年08月27日
公開日（公表日）： 1998年03月10日
要約：
【要約】【課題】 LSIテスタにおけるテスト時間の短縮を図る。【解決手段】 テスト時間計算部13は、命令実行時間記憶部14に記憶されている情報を基に直流テストの時間を計算する。テスト時間表示部15は、テスト時間計算部13の計算結果を表示する。
請求項（抜粋）：
製造されたLSIの入出力ピンに供給する入力信号のパターンを記述した機能検証用テストパターンおよび前記LSIが機能設計通りに動作したときに期待される前記LSIの入出力ピンにおける電気的信号の経時変化から、前記LSIが機能設計通りに動作することを確認する機能テストを行うため、および前記LSIの入出力ピンに電流を印加して電圧値を測定または電圧を印加して電流値を測定することによって、前記LSIの入出力バッファセルの電気的静特性を確認する直流テストを行うためのLSIテスタで使用するテストプログラムを作成するテストプログラム作成装置において、前記機能検証用テストパターンをテスタ言語の形式に則ったLSIテスタ用テストパターンに変換するテストパターン作成部と、直流テストを実施するピンの信号値が直流テストが実施可能な状態である直流テスト実施パターンを前記機能検証用テストパターンの中から選択する直流テスト実施アドレス決定部と、LSIテスタでテストを実施するために必要な情報でLSIテスタ用テストパターン以外の情報がテスタ言語で記述されているLSIテスタ用メインプログラムを作成するメインプログラム作成部と、前記LSIテスタ用テストパターンと前記LSIテスタ用メインプログラムを用いてテストを行った時のテスト時間を計算するテスト時間計算部とを備える、テストプログラム作成装置。
IPC (4件)：
G01R 31/28
, G06F 9/06 530
, G06F 11/22 310
, G06F 11/22
G01R 31/28 P
, G06F 9/06 530 A
, G06F 11/22 310 A
, G06F 11/22 310 B
