特許
J-GLOBAL ID：200903096436863023
画像処理アルゴリズムの評価装置、生成装置、評価方法、生成方法、コンピュータをその評価装置として機能させるためのプログラム、およびコンピュータをその生成装置として機能させるためのプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
深見 久郎
, 森田 俊雄
, 仲村 義平
, 堀井 豊
, 野田 久登
, 酒井 將行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-079682
公開番号（公開出願番号）：特開2006-260410
出願日： 2005年03月18日
公開日（公表日）： 2006年09月28日
要約：
【課題】 画像処理アルゴリズムの評価装置を提供する。【解決手段】 画像処理アルゴリズムの評価装置として機能する画像処理装置が実行する処理は、初期の画像アルゴリズムを評価するステップ(S710)と、学習用画像データを設定するステップ(S720)と、画像処理アルゴリズムを適用するステップ(S730)と、特徴量算出処理(S800)と、ROC評価処理(S900)と、最良のアルゴリズムを保存するステップ(S760)とを含む。画像処理装置は、終了条件が成立していない場合に(S770にてNO)、画像処理アルゴリズムを適用するステップ(S730)以降を再び実行する。【選択図】 図7
請求項（抜粋）：
画像処理の対象となる原画像データと、前記画像処理の対象となる被写体の表面における欠陥を表わす欠陥情報との入力を受ける入力手段と、
前記原画像データと、前記欠陥情報と、画像処理を実現するための1つ以上のアルゴリズムとを格納する記憶手段と、
前記アルゴリズムと前記原画像データとに基づいて画像処理を実行する処理手段と、
抽出基準として予め定められたデータに基づいて、前記処理手段による処理後の画像データから、前記欠陥の候補を表わす欠陥候補データを抽出する抽出手段と、
前記欠陥候補データに基づいて、前記欠陥の候補の特徴を表わす特徴量を算出する特徴量算出手段と、
前記特徴量と前記欠陥情報とに基づいて、前記欠陥の候補を、欠陥として抽出する対象である抽出対象と、欠陥として抽出する対象でない非抽出対象とに分類する分類手段と、
予め定められた第1の評価基準に基づいて前記分類の結果を表わす第1の結果データと、前記第1の評価基準と異なる第2の評価基準に基づいて前記分類の結果を表わす第2の結果データとに基づく評価値を算出する算出手段と、
前記評価値に基づいて、前記アルゴリズムを評価するデータを生成する評価手段とを備える、画像処理アルゴリズムの評価装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (14件)：
5B057AA01
, 5B057BA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CE12
, 5B057DA03
, 5B057DA12
, 5B057DB02
, 5B057DB09
, 5B057DC03
, 5B057DC04
, 5B057DC09
, 5B057DC40
出願人引用 (2件)
審査官引用 (5件)
全件表示
前のページに戻る
