特許
J-GLOBAL ID：200903096677383642

粒子検出方法及び粒子検出装置とこれを用いた空調装置

発明者：
西尾 佳高

西尾 佳高 について

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藤田 政行

藤田 政行 について

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坂田 雅一

坂田 雅一 について

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柴田 賢一

柴田 賢一 について

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黒木 和彦

黒木 和彦 について


出願人/特許権者：
三洋電機株式会社

三洋電機株式会社 について


代理人 (1件)： 岡田 敬
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-089868
公開番号（公開出願番号）：特開平7-294415
出願日： 1994年04月27日
公開日（公表日）： 1995年11月10日
要約：
【要約】【目的】 所望の粒子径の粒子を簡単な受光手段で検出できる粒子検出方法及ぶ粒子検出装置及びこれを用いた空調装置を提供することを目的とする。【構成】 レーザ光を出力する半導体レーザ1と、半導体レーザ1から出力されるレーザ光を粒子に照射するための平行光に変換するコリメータレンズ2と、変換されたレーザ光が所定粒子径を有する粒子により回折されてなる光のうち、回折光強度分布において所定の副極大又はその近傍にある部分の光を取り出せる遮蔽部材5と、遮蔽部材5から出た光を集光させる集光手段6と、集光手段6からの集光された光を受光する受光手段7と、を備えた。
請求項（抜粋）：
光を照射して生じた回折光を用いて粒子を検出することを特徴とする粒子検出方法。
IPC (3件)：
G01N 15/14 ,  F24F 13/28 ,  G01N 15/02
引用特許：
審査官引用 (25件)
  • 特開昭62-228136
  • 特開昭62-228136
  • 粒度分布測定器の検定基準用固定標本の製造方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-304431   出願人：株式会社セイシン企業
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