特許
J-GLOBAL ID：200903097340825208

電力追従帰還作用を利用した電子装置の温度制御

発明者：
トーマス・ピー・ジョーンズ

トーマス・ピー・ジョーンズ について

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ジョナサン・イー・ターナー

ジョナサン・イー・ターナー について

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マーク・エフ・マリノスキ

マーク・エフ・マリノスキ について


出願人/特許権者：
シュラムバーガー・テクノロジーズ・インコーポレイテッド

シュラムバーガー・テクノロジーズ・インコーポレイテッド について


代理人 (1件)： 青山 葆 (外1名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-560611
公開番号（公開出願番号）：特表2002-520630
出願日： 1999年07月14日
公開日（公表日）： 2002年07月09日
要約：
【要約】装置の温度を制御するための方法は、装置の電力消費量に関連したパラメータを測定し、かつ上記装置の温度を制御するために上記パラメータを利用する。これは、熱交換器と、電力モニタと、上記熱交換器の温度設定を制御する回路とによって達成することができる。上記回路は、入力として、電力レベル、熱交換器の温度、及び設定点を用いる。従って、本システムは、温度検出装置がチップの中に、又はチップに対して接続されている必要性を除去し、パッケージではなくて装置の温度に応答し、大きな体積のチップを製造するために用いることができ、温度検出のために装置の大きな表面面積を要求せず、及びチップ電力プロフィールに対する必要を除去する。特に、本システムは設定点を最小限のオーバーシュート又はアンダーシュートで保持することを可能にする。
請求項（抜粋）：
装置の温度を制御する方法であって、 装置の温度以外のパラメータにして、信号接続線とは違って電力接続線を介して装置が消費する電力の消費量に関するパラメータを測定するステップと、 装置の温度の制御に測定パラメータを利用するステップとからなり、前記パラメータの測定と前記温度の制御とが同時の行われることよりなる温度制御方法。
IPC (3件)：
G01R 31/28 ,  G01R 31/26 ,  G05D 23/19
FI (3件)：
G01R 31/26 H ,  G05D 23/19 ,  G01R 31/28 H
Fターム (36件)：
2G003AA00 ,  2G003AB01 ,  2G003AB16 ,  2G003AC03 ,  2G003AD06 ,  2G003AF02 ,  2G003AH01 ,  2G003AH02 ,  2G003AH05 ,  2G003AH08 ,  2G132AB20 ,  2G132AC03 ,  2G132AD01 ,  2G132AD18 ,  2G132AE14 ,  2G132AE16 ,  2G132AE18 ,  2G132AE23 ,  2G132AE27 ,  2G132AG08 ,  2G132AL00 ,  2G132AL21 ,  5H323AA38 ,  5H323BB05 ,  5H323CA09 ,  5H323DA02 ,  5H323DA03 ,  5H323GG04 ,  5H323HH02 ,  5H323JJ03 ,  5H323JJ04 ,  5H323KK05 ,  5H323NN03 ,  5H323NN15 ,  5H323PP02 ,  5H323SS05
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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