特許
J-GLOBAL ID:200903097761068023

半導体装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 梅田 勝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-164188
公開番号(公開出願番号):特開平10-012770
出願日: 1996年06月25日
公開日(公表日): 1998年01月16日
要約:
【要約】【課題】 配線パターンが形成された基板上にICチップがボンディングされ、上記基板とICチップ間に封止樹脂が設けられて成る半導体装置に於いて、必要最小限の量の封止樹脂で信頼性の高い半導体装置を得る。【解決手段】 封止樹脂の注入部となる部分を除く、ICチップ周辺部の基板上に、配線パターン10と同一材料で形成された樹脂止めパターン14及び15を設ける。
請求項(抜粋):
配線パターンが形成された基板上にICチップがボンディングされ、上記基板とICチップ間に封止樹脂が設けられて成る半導体装置に於いて、上記封止樹脂の注入部となる部分を除く、ICチップ周辺部の基板上に、上記配線パターンと同一材料にて形成された樹脂止めパターンが設けられて成ることを特徴とする半導体装置。
IPC (2件):
H01L 23/28 ,  H01L 21/60 311
FI (2件):
H01L 23/28 E ,  H01L 21/60 311 Q
引用特許:
審査官引用 (7件)
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