特許
J-GLOBAL ID:200903098032690110

磁気共鳴検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 多田 公子 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-073339
公開番号(公開出願番号):特開平10-262948
出願日: 1997年03月26日
公開日(公表日): 1998年10月06日
要約:
【要約】【課題】渦電流を最少にして高い分解能の画像を撮影する検査法と、静磁場の均一度を高くして歪の少ない画像の撮影や、スペクトルを計測する検査法を実現するMRI装置を提供する。【解決手段】静磁場不均一度を改善するためのシムコイル31〜39は、検査モードに応じてオン/オフするスイッチ回路51〜59を備える。スイッチ回路51〜59はコンピュータ14からの制御信号によって動作し、傾斜磁場コイル61、62とシムコイル31〜39の電磁結合による干渉が傾斜磁場精度を損いイメージングの結果に悪影響を及ぼす場合は、スイッチ回路を遮断してシムコイルを開ループとして干渉を防止する。一方、スペクトル計測など磁場均一度を重視する検査モードでは、スイッチ回路を閉ループにして、シム電源41〜49より補正電流をシムコイル31〜39に流す。
請求項(抜粋):
被検体を配置する空間に静磁場を発生する手段と、前記静磁場の均一度を改善する磁場均一度補正手段と、前記空間に位置に応じて磁場強度が異なる傾斜磁場を発生する傾斜磁場発生手段と、前記被検体に核磁気共鳴現象を生じさせるために高周波磁界を発生する手段と、前記核磁気共鳴現象を検出する手段と、前記検出した核磁気共鳴信号を演算処理し、処理結果を表示する手段とを備えた磁気共鳴検査装置において、前記磁場均一度補正手段と前記傾斜磁場発生手段との干渉を制御する手段を有することを特徴とする磁気共鳴検査装置。
IPC (3件):
A61B 5/055 ,  G01R 33/3875 ,  G01R 33/387
FI (3件):
A61B 5/05 332 ,  G01N 24/06 520 J ,  G01N 24/06 520 Y
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (1件)

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