高周波デバイス測定プログラムを記録した記憶媒体並びに高周波デバイス測定装置及び方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西村教光 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-049674
公開番号（公開出願番号）：特開2001-242207
出願日： 2000年02月25日
公開日（公表日）： 2001年09月07日
要約：

【要約】【課題】テストフィクスチャ(TF)を用いてDUTの真の特性を測定でき、またTFを用いてDUTを搭載した状態の標準基板の特性測定をシミュレーションできること。【解決手段】測定器1は、TF3と信号ケーブル5で接続されており、TF3の特性、及びDUT4を搭載した状態の特性を測定し、各Sパラメータを処理装置2に出力する。処理装置2は、各SパラメータをTパラメータに変換後、逆行列演算によりDUT4の真の特性を得る。この後、TパラメータをSパラメータに変換して出力する。

請求項（抜粋）：

被測定物の高周波デバイスであるDUT(4)をテストフィクスチャ(3)に交換自在に装着してDUTの特性を測定する際の処理を実行させる高周波デバイス測定プログラムを記録した記憶媒体であって、該高周波デバイス測定プログラムは、処理装置(2)に、信号のベクトル量を測定可能な測定器(1)から得られた、前記テストフィクスチャにDUTを装着した状態でのSパラメータ及び前記テストフィクスチャのみのSパラメータをそれぞれTパラメータに変換させ、各Tパラメータを用いた所定の行列演算を実行させてテストフィクスチャの特性を除去したDUTのみのTパラメータ特性を求めさせ、前記DUTのTパラメータをSパラメータに変換しDUT単体の特性として出力させることを特徴とする高周波デバイス測定プログラムを記録した記憶媒体。

Fターム (4件)：

2G028AA01 , 2G028BB10 , 2G028BC01 , 2G028CG08

引用特許：

審査官引用 (2件)

ネットワークアナライザー
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-233968 出願人：ローデウントシユバルツゲーエムベーハーウントコンパニーカーゲー
電子的被測定物の測定方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-030846 出願人：ローデウントシユバルツゲーエムベーハーウントコンパニーカーゲー, コンパクトソフトウエア,インコーポレーテツド

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